[实用新型]键盘寿命测试装置有效
申请号: | 201320240548.4 | 申请日: | 2013-05-07 |
公开(公告)号: | CN203275596U | 公开(公告)日: | 2013-11-06 |
发明(设计)人: | 张荣斌 | 申请(专利权)人: | 神讯电脑(昆山)有限公司 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215300 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 键盘 寿命 测试 装置 | ||
1.一种键盘寿命测试装置,其应用于笔记本电脑键盘测试中,所述键盘具有标注不同数字的按键,所述按键包括分布于网格矩阵边缘的入口及出口,所述入口具有第一至第十六信号引脚,所述出口具有第十七至第二十四信号引脚,其特征在于,所述测试装置包括:
键盘排线,其具有第一至第二十四端子,所述的第一至第十六端子依次对应所述按键入口的第一至第十六信号引脚,所述第十七至第二十四端子依次对应所述按键出口的第十七至第二十四信号引脚;
键盘连接器,其具有与所述第一至第二十四端子对应的第一至第二十四引脚,所述键盘连接器的一端与所述键盘排线连接;
若干测试电路,其包括一显示单元、一供电单元及一导线,所述显示单元及供电单元均电性串接于所述导线中,所述导线的一端接所述第一至第十六引脚中的任意一引脚,所述导线的另一端接所述第十七至第二十四引脚中的任意一引脚。
2.根据权利要求1所述的键盘寿命测试装置,其特征在于,所述测试电路具有三个,所述测试电路的数量对应测试所述按键的数量。
3.根据权利要求1所述的键盘寿命测试装置,其特征在于,所述显示单元为LED灯。
4.根据权利要求1所述的键盘寿命测试装置,其特征在于,所述供电单元为1.5V电池。
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