[实用新型]一种三相程控精密测试电源

说明书

技术领域

本实用新型涉及仪器仪表领域，特别涉及一种基于CPLD_DSP的三相程控精密测试电源，主要应用于电力系统的电测、热工等仪器仪表领域。

背景技术

三相程控精密测试电源是一种操作方便、可靠稳定、精度高、作用强的电测仪表试验装置，主要应用于电力系统的电测、热工等仪器仪表领域。三相程控精密测试电源主要作为标准电源对电压表、电流表、频率表、相位表进行校准，因此三相程控精密测试电源本身的精度对于校准的电压表、电流表、频率表、相位表来说至关重要。

现有的三相程控精密测试电源多采用单片机或者单一的DSP来实现，这种测试电源采用的硬件较多，系统较为复杂，功耗也相对较高，输出稳定性较差，而且现有三相程控精密测试电源电压、电流、频率的精度都很难提高，这样就会对电压表、电流表、频率表、相位表的校准带来一定影响，进而有可能会影响到仪器仪表的测量精度。

实用新型内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本实用新型的目的在于提供一种三相程控精密测试电源，用于解决现有技术中三相程控精密测试电源系统复杂、功耗高、输出稳定性差、精度低的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本实用新型提供一种三相程控精密测试电源，ROM存储器，所述ROM存储器内存储有DDS波形数据；DSP信号处理器，所述DSP信号处理器与所述ROM存储器连接；CPLD逻辑器件，所述CPLD逻辑器件包括RAM存储器模块、DDS信号产生模块、并行D/A驱动模块、键盘扫描模块、串行D/A驱动模块；所述RAM存储器模块与所述DSP信号处理器、DDS信号产生模块连接，所述DDS信号产生模块与所述DSP信号处理器、并行D/A驱动模块连接，所述并行D/A驱动模块与并行D/A转换电路连接；所述DSP信号处理器与所述键盘扫描模块、串行D/A驱动模块连接，所述串行D/A驱动模块与串行D/A转换电路连接，所述串行D/A转换电路的输出端与所述并行D/A转换电路的基准电压输入端连接，所述键盘扫描模块与外接键盘连接；所述DSP信号处理器读取所述ROM存储器内的DDS波形数据并传输给RAM存储器模块，所述RAM存储器模块将所述DDS波形数据传输给所述DDS信号产生模块，所述键盘扫描模块用于接收所述外接键盘输入的电压或者电流的幅值、频率和相位参数并输送给所述DSP信号处理器，所述DSP信号处理器将电压或者电流的频率、相位参数传输给DDS信号产生模块，所述DDS信号产生模块根据DDS波形数据及电压或者电流的频率、相位参数进行数字合成并通过所述D/A驱动模块传输给并行D/A转换电路，与此同时，DSP信号处理器将电压或者电流的幅值参数经所述串行D/A驱动模块传输给串行D/A转换电路，使所述串行D/A转换电路为所述并行D/A转换电路提供参考电压。

优选地，所述DSP信号处理器还与一显示器连接，所述显示器用于显示所述外接键盘输入的电压或者电流的幅值、频率和相位参数。

优选地，所述DDS信号产生模块为6路并行DDS信号产生模块，所述并行D/A驱动模块为6路并行D/A驱动模块，所述串行D/A驱动模块为6路串行D/A驱动模块。

优选地，所述并行D/A转换电路的输出端还通过一反馈采样电路与所述DSP信号处理器连接。

优选地，所述反馈采样电路包括通道选择模块、放大器和A/D转换模块，所述通道选择模块输入端口与所述D/A转换器输出端口连接，所述通道选择模块的输出端口通过所述A/D转换模块与所述DSP信号处理器连接。

优选地，所述DSP信号处理器采用TMS320F2812芯片。

优选地，所述CPLD逻辑器件采用MAXII系列的EPM1270T144C芯片。

优选地，所述并行D/A转换电路采用MAX7547芯片。

优选地，所述串行D/A转换电路采用LTC1595芯片。

如上所述，本实用新型的三相程控精密测试电源具有以下有益效果：该三相程控精密测试电源采用直接数字频率合成(DDS)技术，以大规模可编程器件CPLD和高速微处理器DSP为系统控制核心，配合高速高精度的DA芯片以及高保真功放一起构成的高精度标准功率源。本测试电源可以输出频率、相位及幅度均可调的高精度电压电流，是高精度的可调电压电流标准源，具有输出稳定可靠、精度高、高性价比、低功耗等优点。

附图说明

图1为本实用新型实施例方框示意图。

图2为本实用新型实施例反馈采样电路示意图。

图3为本实用新型实施例并行D/A转换电路示意图。

图4为本实用新型实施例DDS信号产生模块电路示意图。

元件标号说明