[实用新型]一种三相程控精密测试电源

权利要求书

1.一种三相程控精密测试电源，其特征在于，其包括：

ROM存储器，所述ROM存储器内存储有DDS波形数据；

DSP信号处理器，所述DSP信号处理器与所述ROM存储器连接；

CPLD逻辑器件，所述CPLD逻辑器件包括RAM存储器模块、DDS信号产生模块、并行D/A驱动模块、键盘扫描模块、串行D/A驱动模块；

所述RAM存储器模块与所述DSP信号处理器、DDS信号产生模块连接，所述DDS信号产生模块与所述DSP信号处理器、并行D/A驱动模块连接，所述并行D/A驱动模块与并行D/A转换电路连接；

所述DSP信号处理器与所述键盘扫描模块、串行D/A驱动模块连接，所述串行D/A驱动模块与串行D/A转换电路连接，所述串行D/A转换电路的输出端与所述并行D/A转换电路的基准电压输入端连接，所述键盘扫描模块与外接键盘连接；

所述DSP信号处理器读取所述ROM存储器内的DDS波形数据并传输给RAM存储器模块，所述RAM存储器模块将所述DDS波形数据传输给所述DDS信号产生模块，所述键盘扫描模块用于接收所述外接键盘输入的电压或者电流的幅值、频率和相位参数并输送给所述DSP信号处理器，所述DSP信号处理器将电压或者电流的频率、相位参数传输给DDS信号产生模块，所述DDS信号产生模块根据DDS波形数据及电压或者电流的频率、相位参数进行数字合成并通过所述D/A驱动模块传输给并行D/A转换电路，与此同时，DSP信号处理器将电压或者电流的幅值参数经所述串行D/A驱动模块传输给串行D/A转换电路，使所述串行D/A转换电路为所述并行D/A转换电路提供参考电压。

2.根据权利要求1所述的三相程控精密测试电源，其特征在于：所述DSP信号处理器还与一显示器连接，所述显示器用于显示所述外接键盘输入的电压或者电流的幅值、频率和相位参数。

3.根据权利要求1所述的三相程控精密测试电源，其特征在于：所述DDS信号产生模块为6路并行DDS信号产生模块，所述并行D/A驱动模块为6路并行D/A驱动模块，所述串行D/A驱动模块为6路串行D/A驱动模块。

4.根据权利要求1所述的三相程控精密测试电源，其特征在于：所述并行D/A转换电路的输出端还通过一反馈采样电路与所述DSP信号处理器连接。

5.根据权利要求4所述的三相程控精密测试电源，其特征在于：所述反馈采样电路包括通道选择模块、放大器和A/D转换模块，所述通道选择模块输入端口与所述D/A转换器输出端口连接，所述通道选择模块的输出端口通过所述A/D转换模块与所述DSP信号处理器连接。

6.根据权利要求1所述的三相程控精密测试电源，其特征在于：所述DSP信号处理器采用TMS320F2812芯片。

7.根据权利要求1所述的三相程控精密测试电源，其特征在于：所述CPLD逻辑器件采用MAXII系列的EPM1270T144C芯片。

8.根据权利要求1所述的三相程控精密测试电源，其特征在于：所述并行D/A转换电路采用MAX7547芯片。

9.根据权利要求1所述的三相程控精密测试电源，其特征在于：所述串行D/A转换电路采用LTC1595芯片。