[实用新型]一种抑制二级光谱的紫外光谱测量系统

权利要求书

1.一种抑制二级光谱的紫外光谱测量系统，其特征在于， 

真空仓具有真空泵和排气阀，所述真空泵将所述真空仓抽真空，所述排气阀将空气注入所述真空仓，所述真空仓具有氟化镁窗口，紫外辐射透过所述真空仓的氟化镁窗口进入到检测设备，所述真空仓中放置标准紫外器件和被测紫外器件，所述真空仓的氟化镁窗口与所述真空仓外的紫外单色仪相连接，所述紫外单色仪与紫外光源或者探测器相连接。 

2.根据权利要求1所述的一种抑制二级光谱的紫外光谱测量系统，其特征在于，所述标准紫外器件为标准紫外光源，所述被测紫外器件为被测紫外光源，所述检测设备为探测器，所述紫外单色仪与探测器相连接，当进行110nm-200nm波段的紫外光谱测量时，所述标准紫外光源与被测紫外光源的紫外辐射在抽真空的真空仓中透过氟化镁窗口和紫外单色仪进入到探测器中；当进行200nm-400nm波段的紫外光谱测量时，所述标准紫外光源与被测紫外光源的紫外辐射在真空仓的空气中透过氟化镁窗口和紫外单色仪进入到探测器中。 

3.根据权利要求1所述的一种抑制二级光谱的紫外光谱测量系统，其特征在于，所述标准紫外器件为标准探测器，所述被测紫外器件为被测探测器，所述检测设备为标准探测器和被测探测器，所述紫外单色仪与紫外光源相连接，当进行110nm-200nm波段的紫外光谱测量时，所述紫外光源发出的紫外辐射通过紫外单色仪和氟化镁窗口进入到真空仓中，并通过真空的真空仓进入到标准探测器和被测探测器中；当进行200nm-400nm波段的紫外光谱测量时，所述紫外光源发出的紫外辐射通过紫外单色仪和氟化镁窗口进入到真空仓中，并通过真空仓中的空气进入到标准探测器和被测探测器中。