[实用新型]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201320088959.6 申请日: 2013-02-27
公开(公告)号: CN203205067U 公开(公告)日: 2013-09-18
发明(设计)人: 早川俊之 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G11C7/10 分类号: G11C7/10
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 刘瑞东;陈海红
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置
【说明书】:

技术领域

这里描述的实施方式一般涉及半导体装置。

背景技术

提供具有金属制的外壳的USB(Universal Serial Bus,通用串行总线)存储器。期望提高半导体装置的可靠性。

实用新型内容

本实用新型的实施方式提供可靠性高的半导体装置。

实施方式的半导体装置,具备:外壳(housing),其包含第1壁和位于该第1壁的相反侧的第2壁并在上述第1壁和上述第2壁之间设有开口部;基板(board),其位于上述外壳内,在上述第1壁和上述第2壁之间延伸,并设有可与从上述开口部插入的外部端子接触的端子;第1支撑部,其设置在上述第1壁,在与上述第1壁近似平行的方向支撑上述基板的端部;阻挡件(stopper),其位于上述外壳内,包含从上述第1支撑部的相反侧支撑上述基板的第1部分;第2支撑部,其设置在上述第2壁,从上述第1支撑部的相反侧支撑上述阻挡件;覆盖部,其覆盖上述端子的相反侧的上述外壳的端部并与该外壳连接;以及第3支撑部,其设置在上述外壳,当上述覆盖部向上述外部端子的插入方向的相反侧被拉拽时,抑制上述外壳和上述覆盖部的连接被解除。

优选,上述阻挡件包含位于上述基板和上述第2壁之间并从上述第1壁的相反侧支撑上述基板的第2部分。

优选,上述半导体装置,还具备:第1突起,其设置在上述第1壁及上述基板的至少一方,使上述基板从上述第1壁离开;第2突起,其在上述第1突起和上述开口部之间,设置在上述第1壁及上述基板的至少一方,使上述基板从上述第1壁离开,其中,上述阻挡件的第2部分从上述第1部分向上述开口部延伸,超过上述第1突起和上述第2突起之间的中央。

优选,上述阻挡件设有与上述第2壁相面对的凹部,上述第2支撑部插入上述凹部,从上述第1支撑部的相反侧面向上述阻挡件。

优选,上述第2支撑部在相对于上述第1壁倾斜的方向向上述凹部延伸,在与上述第1壁近似平行的方向可弹性变形。

优选,上述第2支撑部通过使上述第2壁的一部分向上述外壳的内侧弯曲而形成。

其他实施方式的半导体装置,具备:包含第1壁和位于该第1壁的相反侧的第2壁的外壳;位于上述外壳内的基板;设置在上述第1壁,在与上述第1壁近似平行的方向支撑上述基板的端部的第1支撑部;位于上述外壳内,支撑上述基板的阻挡件;以及设置在上述第2壁,支撑上述阻挡件的第2支撑部。

优选,上述阻挡件从上述第1支撑部的相反侧支撑上述基板。

优选,上述半导体装置,还具备:第3支撑部,其设置在上述第1壁,从上述第1支撑部的相反侧支撑上述基板。

优选,上述基板包含衬底(substrate)、在该衬底安装的半导体芯片以及密封该半导体芯片的密封树脂。

优选,上述基板包含向该基板的外部露出并面向上述第2壁的端子和在上述衬底安装的部件,上述部件的端部在上述基板的厚度方向向上述密封树脂的外部突出,与上述第1壁接触,使上述基板的密封树脂从上述第1壁离开。

实施方式,可以实现可靠性高的半导体装置。

附图说明

以下参考附图说明实施方式的不同方面。附图和相关的描述用于解释实施方式,而不是限制本实用新型的范围。

图1是第1实施方式的半导体装置的侧视图。

图2是图1中所示半导体装置的部分分解的立体图。

图3是图2中所示装置主体的部分分解的立体图。

图4是图2中所示装置主体的截面及顶面示图。

图5是图4中所示基板(基板模块)的截面图。

图6是图2中所示装置主体的内部的截面图。

图7是第1实施方式的外部设备的连接器的一例示图。

图8是第1实施方式的半导体装置的连接器部的一例示图。

图9是图1中所示壳体的内部示图。

图10是第1实施方式的第1变形例的装置主体的截面图。

图11是第1实施方式的第2变形例的装置主体的截面图。

图12是第1实施方式的第3变形例的装置主体的截面图。

图13是第1实施方式的第4变形例的装置主体的截面图。

图14是第1实施方式的第5变形例的装置主体的截面图。

图15是图14中所示装置主体的截面图。

图16是第2实施方式的装置主体的部分分解的立体图。

图17是第3实施方式的装置主体的截面图。

图18是第4实施方式的半导体装置的侧视图。

图19是图18中所示装置主体的截面图。

图20是第5实施方式的半导体装置的部分分解的立体图。

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