[实用新型]晶圆加工减薄机有效
申请号: | 201320080557.1 | 申请日: | 2013-02-21 |
公开(公告)号: | CN203165870U | 公开(公告)日: | 2013-08-28 |
发明(设计)人: | 陈孟端 | 申请(专利权)人: | 正恩科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L33/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;李静 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 加工 减薄机 | ||
1.一种晶圆加工减薄机,其特征在于,所述晶圆加工减薄机包含:
一自动送料匣,所述自动送料匣具有多个容置槽;
多个晶圆固定元件,所述多个晶圆固定元件存放于所述多个容置槽中,所述多个晶圆固定元件分别具有对应放入所述多个容置槽中的一铁环与固定于所述铁环下的一胶膜,所述胶膜供黏贴一晶圆;以及
一晶圆加工减薄装置,所述晶圆加工减薄装置紧邻所述自动送料匣而设置,以承接所述晶圆固定元件,并且所述晶圆加工减薄装置具有提供负压的一吸盘,所述吸盘供吸附所述胶膜的未黏贴所述晶圆的一侧。
2.根据权利要求1所述的晶圆加工减薄机,其特征在于,所述吸盘具有位于外侧的一外环区域与位于内侧的一中心区域,所述外环区域供放置所述铁环,所述中心区域供设置一吸附面,且所述外环区域的高度低于所述中心区域。
3.根据权利要求2所述的晶圆加工减薄机,其特征在于,所述外环区域与所述中心区域的高度差大于所述铁环的厚度。
4.根据权利要求1所述的晶圆加工减薄机,其特征在于,所述胶膜上涂布有黏贴所述晶圆的一黏胶。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造