[发明专利]芯片模块、绝缘材料和制造芯片模块的方法有效
申请号: | 201310757262.8 | 申请日: | 2013-12-04 |
公开(公告)号: | CN103855109B | 公开(公告)日: | 2016-11-30 |
发明(设计)人: | J·赫格劳尔;R·奥特伦巴;K·席斯;X·施勒格尔;J·施雷德尔 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/373 | 分类号: | H01L23/373;H01L23/367;H01L21/50 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 刘金凤;徐红燕 |
地址: | 德国瑙伊比*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 芯片 模块 绝缘材料 制造 方法 | ||
1.一种芯片模块,包括:
半导体芯片;
载体,其中半导体芯片被布置在载体上或被嵌入到载体内;以及
至少部分地覆盖载体的面的绝缘层,其中绝缘层的介电常数εr和导热系数λ满足条件λ·εr<4.0W·m-1·K-1。
2.根据权利要求1所述的芯片模块,其中所述绝缘层的介电常数εr和导热系数λ满足λ·εr<1.0W·m-1·K-1。
3.根据权利要求1所述的芯片模块,其中所述绝缘层包括有孔材料。
4.根据权利要求3所述的芯片模块,其中所述有孔材料的孔隙率大于50%。
5.根据权利要求1所述的芯片模块,其中所述绝缘层包括选自包括未掺杂二氧化硅、氟掺杂二氧化硅、碳掺杂二氧化硅、聚合物电介质、氮化物和金属氧化物的组中的至少一种材料。
6.根据权利要求1所述的芯片模块,其中所述绝缘层的介电常数εr小于2.0。
7.根据权利要求1所述的芯片模块,其中所述绝缘层的导热系数λ大于1.0W·m-1·K-1。
8.根据权利要求1所述的芯片模块,其中所述绝缘层具有小于10μm的厚度。
9.根据权利要求1所述的芯片模块,其中所述载体为陶瓷的或金属的。
10.根据权利要求1所述的芯片模块,还包括用于将芯片模块附着至外部热沉的通孔,其中所述通孔延伸穿过所述载体和所述绝缘层。
11.根据权利要求1所述的芯片模块,还包括被布置在所述绝缘层的表面上的热沉,该表面与面向所述载体的表面相对。
12.根据权利要求1所述的芯片模块,其中所述半导体芯片包括功率集成电路、AC/DC或DC/DC转换器电路、功率MOS晶体管、功率肖特基二极管、垂直晶体管结构或绝缘栅双极晶体管中的至少一种。
13.一种芯片模块,包括:
半导体芯片;
载体,其中所述半导体芯片被布置在所述载体上或被嵌入到所述载体内;以及
至少部分到覆盖所述载体的面的绝缘层,其中所述绝缘层包括有孔材料。
14.一种绝缘材料,其具有满足条件λ·εr<4.0W·m-1·K-1的介电常数εr和导热系数λ。
15.根据权利要求14所述的绝缘材料,其中所述介电常数εr和所述导热系数λ满足<2.0W·m-1·K-1。
16.根据权利要求14所述的绝缘材料,其中该材料为有孔材料。
17.根据权利要求16所述的绝缘材料,其中该材料的孔隙率大于60%。
18.根据权利要求14所述的绝缘材料,其中该绝缘材料包括二氧化硅、氟掺杂二氧化硅、碳掺杂二氧化硅、聚合物电介质、氮化物或金属氧化物中的至少一种。
19.根据权利要求14所述的绝缘材料,其中所述介电常数εr低于1.5。
20.根据权利要求14所述的绝缘材料,其中所述导热系数λ大于1.0W·m-1·K-1。
21.一种用于承载电子部件的衬底,所述衬底包括绝缘材料,所述绝缘材料具有满足条件λ·εr<4.0W·m-1·K-1的介电常数εr和导热系数λ。
22.根据权利要求21所述的衬底,还包括衬底基体材料,其中所述绝缘材料已被施加至所述衬底基体材料的表面。
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