[发明专利]显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示面板的检测技术领域；更具体地讲，涉及一种显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测装置。

背景技术

随着显示技术领域的飞速发展，高品质图像显示的显示面板（例如，液晶显示面板）已变得越来越流行。然而根据现有的显示面板的制造技术，完全避免显示缺陷的发生是非常困难也是不现实的，因此在显示面板的制造工序中，对显示面板进行显示缺陷检查的工序是十分必要的。

现有技术中，一般采用光源照射显示面板，并获取对应的灰阶图，继而根据灰阶图是否出现灰阶差异来判定显示面板是否具有缺陷。然而，由于某些类型的缺陷（例如在显示面板端子侧的凸起或贝壳裂）在光源照射显示面板时对应灰阶图的灰阶差异较小，不易被分辨，极易被漏检，从而降低对显示面板的缺陷检测能力。

发明内容

为了解决上述现有技术存在的问题，本发明的目的在于提供一种能够极易分辨显示面板上的各种缺陷，从而提高检测准确率的显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测装置。

根据本发明的一方面，提供了一种显示面板的缺陷检测方法，包括步骤：A）获取显示面板的边缘图像及所述边缘图像中每个像素的灰阶值；B）在所述边缘图像中选择一特定区域，并获得所述特定区域中的每个像素的灰阶值；C）对所述特定区域中的所有像素的灰阶值取平均值，以得到所述特定区域中的所有像素的平均灰阶值；D）基于得到的所述平均灰阶值对所述特定区域中的每个像素的灰阶值进行二值化处理，以获得若干分界线，其中，所述分界线上的像素的灰阶值与除所述分界线上的像素之外的其它像素的灰阶值不同；E）过滤所述若干分界线中的水平线和垂直线，以得到若干剩余的分界线；F）对所述若干剩余的分界线压缺陷规格线，当所述剩余的分界线的宽度不小于所述缺陷规格线的宽度时，确定所述剩余的分界线为缺陷线。

进一步地，所述的缺陷检测方法还包括步骤：G）当所述剩余的分界线的宽度小于所述缺陷规格线的宽度时，确定所述剩余的分界线不为缺陷线。

进一步地，在所述步骤D）中，所述“基于得到的所述平均灰阶值来对所述特定区域中的每个像素的灰阶值进行二值化处理”的具体实现方式为：将所述特定区域中的每个像素的灰阶值与所述平均灰阶值进行比较；其中，当所述特定区域中的某个像素的灰阶值不小于所述平均灰阶值时，将该某个像素的灰阶值设置为“1”，当所述特定区域中的某个像素的灰阶值小于所述平均灰阶值时，将该某个像素的灰阶值设置为“0”。

进一步地，所述分界线的宽度与每个所述像素的宽度相同。

根据本发明的另一方面，还提供了一种显示面板的缺陷检测装置，包括：图像获取单元，被配置为获取显示面板的边缘图像及所述边缘图像中每个像素的灰阶值；选择单元，被配置为在所述边缘图像中选择一特定区域，并获得所述特定区域中的每个像素的灰阶值；计算单元，被配置为对所述特定区域中的所有像素的灰阶值取平均值，以得到所述特定区域中的所有像素的平均灰阶值；二值化处理单元，被配置为基于得到的所述平均灰阶值对所述特定区域中的每个像素的灰阶值进行二值化处理，以获得若干分界线，其中，所述分界线上的像素的灰阶值与除所述分界线上的像素之外的其它像素的灰阶值不同；过滤单元，被配置为过滤所述若干分界线中的水平线和垂直线，以得到若干剩余的分界线；缺陷判断单元，被配置为判断所述剩余的分界线的宽度是否小于所述缺陷规格线的宽度；缺陷确定单元，被配置为当所述缺陷判断单元判断为所述剩余的分界线的宽度不小于所述缺陷规格线的宽度时，确定所述剩余的分界线为缺陷线。

进一步地，当所述缺陷判断单元判断所述剩余的分界线的宽度小于所述缺陷规格线的宽度时，所述缺陷确定单元确定所述剩余的分界线不为缺陷线。

进一步地，所述二值化处理单元对所述特定区域中的每个像素的灰阶值与所述平均灰阶值进行比较；其中，当所述特定区域中的某个像素的灰阶值不小于所述平均灰阶值时，所述二值化处理单元将该某个像素的灰阶值设置为“1”，当所述特定区域中的某个像素的灰阶值小于所述平均灰阶值时，所述二值化处理单元将该某个像素的灰阶值设置为“0”。

进一步地，所述分界线的宽度与每个所述像素的宽度相同。

本发明的显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测装置，能够容易地分辨出显示面板的某些难以被检测出的缺陷（例如在显示面板端子侧的凸起或贝壳裂），提高检测准确率，从而提升对显示面板的缺陷检测能力。

附图说明

通过下面结合附图进行的详细描述，本发明的上述和其它目的、特点和优点将会变得更加清楚，附图中：