[发明专利]显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测装置

权利要求书

1.一种显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

A）获取显示面板的边缘图像及所述边缘图像中每个像素的灰阶值；

B）在所述边缘图像中选择一特定区域，并获得所述特定区域中的每个像素的灰阶值；

C）对所述特定区域中的所有像素的灰阶值取平均值，以得到所述特定区域中的所有像素的平均灰阶值；

D）基于得到的所述平均灰阶值对所述特定区域中的每个像素的灰阶值进行二值化处理，以获得若干分界线，其中，所述分界线上的像素的灰阶值与除所述分界线上的像素之外的其它像素的灰阶值不同；

E）过滤所述若干分界线中的水平线和垂直线，以得到若干剩余的分界线；

F）对所述若干剩余的分界线压缺陷规格线，当所述剩余的分界线的宽度不小于所述缺陷规格线的宽度时，确定所述剩余的分界线为缺陷线。

2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，还包括步骤：

G）当所述剩余的分界线的宽度小于所述缺陷规格线的宽度时，确定所述剩余的分界线不为缺陷线。

3.根据权利要求1或2所述的缺陷检测方法，其特征在于，在所述步骤D）中，所述“基于得到的所述平均灰阶值来对所述特定区域中的每个像素的灰阶值进行二值化处理”的具体实现方式为：将所述特定区域中的每个像素的灰阶值与所述平均灰阶值进行比较；其中，当所述特定区域中的某个像素的灰阶值不小于所述平均灰阶值时，将该某个像素的灰阶值设置为“1”，当所述特定区域中的某个像素的灰阶值小于所述平均灰阶值时，将该某个像素的灰阶值设置为“0”。

4.根据权利要求1或2所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述分界线的宽度与每个所述像素的宽度相同。

5.根据权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述分界线的宽度与每个所述像素的宽度相同。

6.一种显示面板的缺陷检测装置，其特征在于，包括：

图像获取单元（201），被配置为获取显示面板的边缘图像及所述边缘图像中每个像素的灰阶值；

选择单元（202），被配置为在所述边缘图像中选择一特定区域，并获得所述特定区域中的每个像素的灰阶值；

计算单元（203），被配置为对所述特定区域中的所有像素的灰阶值取平均值，以得到所述特定区域中的所有像素的平均灰阶值；

二值化处理单元（204），被配置为基于得到的所述平均灰阶值对所述特定区域中的每个像素的灰阶值进行二值化处理，以获得若干分界线，其中，所述分界线上的像素的灰阶值与除所述分界线上的像素之外的其它像素的灰阶值不同；

过滤单元（205），被配置为过滤所述若干分界线中的水平线和垂直线，以得到若干剩余的分界线；

缺陷判断单元（206），被配置为判断所述剩余的分界线的宽度是否小于所述缺陷规格线的宽度；

缺陷确定单元（207），被配置为当所述缺陷判断单元（206）判断为所述剩余的分界线的宽度不小于所述缺陷规格线的宽度时，确定所述剩余的分界线为缺陷线。

7.根据权利要求6所述的缺陷检测装置，其特征在于，当所述缺陷判断单元（206）判断所述剩余的分界线的宽度小于所述缺陷规格线的宽度时，所述缺陷确定单元（207）确定所述剩余的分界线不为缺陷线。

8.根据权利要求6或7所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述二值化处理单元（204）对所述特定区域中的每个像素的灰阶值与所述平均灰阶值进行比较；

其中，当所述特定区域中的某个像素的灰阶值不小于所述平均灰阶值时，所述二值化处理单元将该某个像素的灰阶值设置为“1”，当所述特定区域中的某个像素的灰阶值小于所述平均灰阶值时，所述二值化处理单元将该某个像素的灰阶值设置为“0”。

9.根据权利要求6或7所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述分界线的宽度与每个所述像素的宽度相同。

10.根据权利要求8所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述分界线的宽度与每个所述像素的宽度相同。