[发明专利]晶体振荡器波形参数自动测量系统和方法

说明书

技术领域

本发明涉及计算机数据处理和自动化测量领域，尤其涉及一种晶体振荡器波形参数自动测量系统和方法。

背景技术

石英晶体振荡器是一种高精度、高稳定度的振荡器，被广泛应用于彩电、计算机、遥控器等各类振荡电路中。石英晶体振荡器分为非温度补偿式晶体振荡器、温度补偿晶体振荡器、电压控制晶体振荡器和恒温控制晶体振荡器等几种类型。石英晶体振荡器的一般生产过程是：首先将石英材料以一定的方向角切割下来，经过研磨等工艺加工成石英晶片（半成品），然后把晶片镀基膜加上电极，再通过检测及微调使其谐振频率达到目标值，最后装上外壳压封成为晶体。其成品生产的基本流程包括：晶片的清洗、腐蚀、参数的测量和分选、上架、点胶、微调、中间检测、封壳和产品检测。其中，在产品检测过程中，需要对生产完成的晶体振荡器的各种波形参数进行测量，以获取其中满足生产要求的晶体振荡器。

目前，对晶体振荡器中各种波形参数的测试是采用人工操控测试设备进行的，通过将待测的晶体振荡器与数字示波器相连，进而人工观察该晶体振荡器的振荡波形是否正常并获取峰峰值、占空比等波形参数，通过将得到的各种波形参数与标准参数进行比较，进而判断该待测晶体振荡器是否合格，同时，每完成一个晶振的测量之后，需要人工将一个新的待测晶振与数字示波器连接后，重新进行上述波形参数的测量。但是，伴随应用对晶体振荡器的性能需求不断提高，目前的测试方式往往无法达到晶体振荡器的应用测试要求：如测试的条件不能满足、人工的数据处理存在误差、容易造成错误判断、生产效率低下等。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种晶体振荡器波形参数自动测量系统和方法。解决了因为人为参与晶体振荡器波形参数的测试过程而带来的测试的参数设置不够准确、测试的条件不能满足、人工的数据处理存在误差、容易造成错误判断、生产效率低下等问题。

在第一方面，本发明实施例提供了一种晶体振荡器波形参数自动测量系统，包括：测量控制单元、数字示波器和晶振测量单元，其中，所述测量控制单元分别与所述数字示波器和所述晶振测量单元相连，所述数字示波器与所述晶振测量单元相连，所述晶振测量单元与至少两个待测晶体振荡器相连；

所述测量控制单元，用于向所述晶振测量单元发送晶振选择信号，控制所述晶振测量单元将与所述晶振选择信号对应的待测晶体振荡器与所述数字示波器相连接；接收所述数字示波器发送的采样序列；对所述采样序列进行数据处理，获取当前测量的待测晶体振荡器的波形参数；

所述晶振测量单元，用于为所述至少两个待测晶体振荡器供电，根据接收的晶振选择信号，将与所述晶振选择信号对应的待测晶体振荡器与所述数字示波器相连；

所述数字示波器，用于获取相连接的待测晶体振荡器的振荡波形的采样序列，将所述采样序列通过自身的通信接口发送至所述测量控制单元。

在第二方面，本发明实施例提供了一种晶体振荡器波形参数自动测量方法，应用于本发明任意实施例所述的晶体振荡器波形参数自动测量系统中，包括：

向晶振测量单元发送晶振选择信号，控制所述晶振测量单元将与所述晶振选择信号对应的待测晶体振荡器与所述数字示波器相连接；

接收所述数字示波器发送的采样序列；

根据所述采样序列，获取当前测量的待测晶体振荡器的波形参数。

本发明实施例通过将晶振测量单元、数字示波器和测量控制单元进行集成，使用测量控制单元向晶振测量单元发送晶振选择信号，控制晶振测量单元将与晶振选择信号对应的待测晶体振荡器与数字示波器相连接，数字示波器获取相连接的待测晶体振荡器的振荡波形的采样序列，将采样序列通过自身的通信接口发送至测量控制单元，测量控制单元对接收到的采样序列进行数据处理，获取当前测量的待测晶体振荡器的波形参数的技术手段，解决了因为人为参与晶体振荡器波形参数的测试过程而带来的测试的条件不能满足、人工的数据处理存在误差、容易造成错误判断、生产效率低下等问题，使得整个晶体振荡器波形参数的测试过程自动完成，达到了减少人力投入，减少测量误差和提高生产效率的技术效果。

附图说明

图1是本发明第一实施例的一种晶体振荡器波形参数自动测试系统的结构图；

图2是本发明第一实施例一种优选实施方式的结构图；

图3是本发明第二实施例的一种晶体振荡器波形参数自动测试方法的流程图；

图4是本发明第三实施例的一种晶体振荡器波形参数自动测试方法的流程图；

图5是本发明第三实施例的晶体振荡器波形参数自动测试方法的人机交互的软件界面示意图。