[发明专利]晶体振荡器波形参数自动测量系统和方法

权利要求书

1.一种晶体振荡器波形参数自动测量系统，其特征在于，包括：测量控制单元、数字示波器和晶振测量单元，其中，所述测量控制单元分别与所述数字示波器和所述晶振测量单元相连，所述数字示波器与所述晶振测量单元相连，所述晶振测量单元与至少两个待测晶体振荡器相连；

所述测量控制单元，用于向所述晶振测量单元发送晶振选择信号，控制所述晶振测量单元将与所述晶振选择信号对应的待测晶体振荡器与所述数字示波器相连接；接收所述数字示波器发送的采样序列；对所述采样序列进行数据处理，获取当前测量的待测晶体振荡器的波形参数；

所述晶振测量单元，用于为所述至少两个待测晶体振荡器供电，根据接收的晶振选择信号，将与所述晶振选择信号对应的待测晶体振荡器与所述数字示波器相连；

所述数字示波器，用于获取相连接的待测晶体振荡器的振荡波形的采样序列，将所述采样序列通过自身的通信接口发送至所述测量控制单元。

2.根据权利要求1所述的晶体振荡器波形参数自动测量系统，其特征在于，所述晶振测量单元中具体包括多路选择器，其中，

所述多路选择器的数据选择端与所述测量控制单元相连、用于接收所述测量控制单元发送的所述晶振选择信号；

所述多路选择器的输入端与所述至少两个待测晶体振荡器的信号输出端相连；

所述多路选择器的输出端与所述数字示波器的信号测试端相连，用于将与所述晶振选择信号对应的待测晶体振荡器与所述数字示波器相连。

3.一种晶体振荡器波形参数自动测量方法，应用于权利要求1-2任一所述的晶体振荡器波形参数自动测量系统中，其特征在于，包括：

所述测量控制单元向晶振测量单元发送晶振选择信号，控制所述晶振测量单元将与所述晶振选择信号对应的待测晶体振荡器与所述数字示波器相连接；

所述测量控制单元接收所述数字示波器发送的采样序列；

所述测量控制单元根据所述采样，获取当前测量的待测晶体振荡器的波形参数。

4.根据权利要求3所述的晶体振荡器波形参数自动测量方法，其特征在于，获取的当前测量的待测晶体振荡器的波形参数具体包括：振荡波形、和/或与波形幅度相关的波形参数和/或与时间相关的波形参数。

5.根据权利要求4所述的晶体振荡器波形参数自动测量方法，其特征在于，所述与波形幅度相关的波形参数具体包括：最大值、最小值、顶值、平均值、峰峰值和均方根值中的至少一个。

6.根据权利要求4所述的晶体振荡器的波形参数自动测量方法，其特征在于，所述与时间相关的波形参数具体包括：频率、周期、上升时间、下降时间、正脉宽、负脉宽和占空比中的至少一个。

7.根据权利要求3所述的晶体振荡器的波形参数自动测量方法，其特征在于，所述根据所述采样序列，获取当前测量的待测晶体振荡器的波形参数之后，所述方法还包括：

当所述获取的波形参数属于标准波形参数范围内时，确定所述当前测量的待测晶体振荡器合格。

8.根据权利要求3所述的晶体振荡器的波形参数自动测量方法，其特征在于，所述根据所述采样序列，获取当前测量的待测晶体振荡器的波形参数之后，所述方法还包括：将当前测量的待测晶体振荡器的编号与所述当前测量的待测晶体振荡器的波形参数对应存储。