[发明专利]恒温晶体振荡器拐点温度自动测量方法和系统

说明书

技术领域

本发明涉及计算机数据处理和自动化测量领域，尤其涉及一种恒温晶体振荡器拐点温度自动测量方法和系统。

背景技术

石英晶体振荡器是一种高精度、高稳定度的振荡器，被广泛应用于彩电、计算机、遥控器等各类振荡电路中。在各种石英晶体振荡器中，恒温晶体振荡器（OCXO，Oven Controlled Crystal Oscillator）是一种频率稳定性最好的高精度晶体振荡器，其作为精密时频信号源广泛应用于移动通信的基站以及卫星通信等系统的基地站中。

为了获得较高的频率稳定度，必须采用高品质的石英谐振器，稳定的振荡电路以及结构完善、控温良好的精密恒温槽。此外，对于拐点的调试也是OCXO设计中的一个重要环节。为了使得恒温晶体振荡器的频率稳定度尽可能的高，需要使得谐振器工作在频率温度特性曲线斜率绝对值最小的温度点，即拐点。在图1中示出了石英晶体振荡器常用切型的频率温度特性曲线。其中，常用切型包括：AT切、GT切、DT切、BT切和CT切，不同切型对应不同的切片方向。f为晶体振荡器振荡频率的标称值，Δf为频率测量值与频率标称值f的差值，为差值百分比。如图1所示，如果拐点调试的不精确，导致石英晶体振荡器的工作温度偏离了理论的拐点温度，则OCXO的频率稳定度会急速恶化。

目前，恒温晶体振荡器的拐点测试是采用人工操控测试设备进行，通过手工采集数据，再人为选择拐点值。此种人为测量的方式远远不能满足恒温晶体振荡器的高性能指标。例如：测试的参数点设置不够科学、人为选择的参数点不够精确、拐点测试值不准或者人为选择带来的误差等问题；进而导致恒温晶体振荡器没有达到其要求的输出精度，甚至无法持续保证稳定输出；另外，生产效率低下，也是人工调试的极大的弊端。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种恒温晶体振荡器拐点温度自动测量方法和系统。解决了因为人为参与恒温晶体振荡器拐点温度测量而带来测试的参数点设置不够科学、人为选择的拐点不够精确，拐点测试值不准、人为选择造成的误差大和生产效率低下等问题。

在第一方面，本发明实施例提供了一种恒温晶体振荡器拐点温度自动测量方法，包括：

设置待测恒温晶体振荡器的M个温度测试点，其中，M为自然数；

获取与所述M个温度测试点对应的待测恒温晶体振荡器的M个频率测量值中的极值点；

将与所述M个频率测量值中的极值点对应的温度测试点作为所述待测恒温晶体振荡器的拐点温度。

在第二方面，本发明实施例提供了一种恒温晶体振荡器拐点温度自动测量系统，包括：相连接的测量控制单元和晶振测量单元，其中：

所述测量控制单元包括：

温度测试点设置单元，用于设置待测恒温晶体振荡器的M个温度测试点，其中，M为自然数；

频率测量值极值获取单元，用于获取与所述M个温度测试点对应的待测恒温晶体振荡器的M个频率测量值中的极值点；

拐点温度获取单元，将与所述M个频率测量值中的极值点对应的温度测试点作为所述待测恒温晶体振荡器的拐点温度；

所述晶振测量单元包括：

控温部件，用于根据所述测量控制单元产生的调温信号，控制所述晶振测量单元中待测恒温晶体振荡器调整自身恒温槽内的温度；

频率测量部件，用于根据所述测量控制单元产生的频率测量信号，测量所述晶振测量单元中待测恒温晶体振荡器的频率值。

本发明实施例通过将晶振测量单元和测量控制单元进行集成，使用测量控制单元控制晶振测量单元中待测恒温晶体振荡器调整自身恒温槽内的温度，自动采集设定温度下的待测恒温晶体振荡器的频率测量值，当待测恒温晶体振荡器在全部温度测试点内完成测试后，测量控制单元获取各频率测量值中的极值点作为拐点温度的技术手段，解决了因为人为参与恒温晶体振荡器拐点温度测量而带来测试的参数点设置不够科学、人为选择的拐点不够精确，拐点测试值不准或者人为选择误差和生产效率低下等问题，使得整个恒温晶体振荡器测试过程自动完成，达到了减少人力投入，减少测量误差和提高生产效率的技术效果。

附图说明

图1是现有技术中石英晶体振荡器常用切型的频率温度特性曲线的示意图；

图2是本发明第一实施例的一种恒温晶体振荡器拐点温度自动测试方法的流程图；

图3是本发明第二实施例的一种恒温晶体振荡器拐点温度自动测试方法的流程图；

图4是本发明第三实施例的一种恒温晶体振荡器拐点温度自动测试方法的流程图；