[发明专利]恒温晶体振荡器拐点温度自动测量方法和系统

权利要求书

1.一种恒温晶体振荡器拐点温度自动测量方法，其特征在于，包括：

设置待测恒温晶体振荡器的M个温度测试点，其中，M为自然数；

获取与所述M个温度测试点对应的待测恒温晶体振荡器的M个频率测量值中的极值点；

将与所述M个频率测量值中的极值点对应的温度测试点作为所述待测恒温晶体振荡器的拐点温度。

2.根据权利要求1所述的恒温晶体振荡器拐点温度自动测量方法，其特征在于，所述M个频率测量值中的极值点为M个频率测量值中的极大值点。

3.根据权利要求2所述的恒温晶体振荡器拐点温度自动测量方法，其特征在于，所述获取与所述M个温度测试点对应的待测恒温晶体振荡器的M个频率测量值中的极值点具体包括：

依次获取与所述M个温度测试点对应的待测恒温晶体振荡器的M个频率测量值；

获取所述M个频率测量值中的极大值点。

4.根据权利要求2所述的恒温晶体振荡器拐点温度自动测量方法，其特征在于，当M＝K×Lⁱ时，所述获取与所述M个温度测试点对应的待测恒温晶体振荡器的M个频率测量值中的极值点具体包括：

S110、将所述M个温度测试点顺序均分为L个分组，每个分组中包括K×L^i-1个温度测试点；

S120、从L个分组中每组选择一个温度测试点，获取与该L个选择的温度测试点对应的待测恒温晶体振荡器的L个第一频率测量值，获取与所述L个第一频率测量值中的最大值对应的温度测试点所在的第一分组；

S130、当所述第一分组中的温度测试点个数等于K时，获取与所述第一分组中的K个温度测试点对应的待测恒温晶体振荡器的K个频率测量值，执行步骤140；否则，将所述第一分组中的各温度测试点顺序均分为L个分组，返回步骤S120；

S140、获取所述K个频率测量值中的最大值作为标准极值，根据所述标准极值，获取与所述M个温度测试点对应的待测恒温晶体振荡器的M个频率测量值中的极值点；

其中，L为大于等于2整数、K为自然数、L＞K，i为自然数。

5.根据权利要求2所述的恒温晶体振荡器拐点温度自动测量方法，其特征在于，当M＞K×Lⁱ时，获取与所述M个温度测试点对应的待测恒温晶体振荡器的M个频率测量值中的极值点具体包括：

S210、从所述M个温度测试点中选取M′个温度测试点，其中：M′＝K×Lⁱ；

S220、将所述M′个温度测试点顺序均分为L个分组，每个分组中包括K×L^i-1个温度测试点；

S230、从L个分组中每组中选择一个温度测试点，获取与该L个选择的温度测试点对应的待测恒温晶体振荡器的L个第一频率测量值，获取与所述L个第一频率测量值中的最大值对应的温度测试点所在的第一分组；

S240、当所述第一分组中的温度测试点个数等于K时，获取所述第一分组中的K个温度测试点对应的待测恒温晶体振荡器的K个频率测量值，执行步骤250；否则，将所述第一分组中的各温度测试点顺序均分为L个分组，返回步骤230；

S250、获取与K个温度测试点对应的待测恒温晶体振荡器的K个频率测量值中的最大值作为标准极值，根据所述标准极值，获取与所述M个温度测试点对应的待测恒温晶体振荡器的M个频率测量值中的极值点；

其中，L为大于等于2整数、K为自然数、L＞K，i为自然数。