[发明专利]可靠性测试板及PCB板孔间CAF失效分析方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种可靠性测试板及PCB板孔间CAF失效分析方法。

背景技术

随着电子产品不断向多功能化、小型轻量化、高性能化的方向发展，印制线路板中孔密度越来越大，相应的孔间的CAF失效几率也越来越大，因此大多数印制线路板在进行新板材、新工艺、新结构产品验证时都会设计测试板进行CAF性能评价。根据目前现有的技术，对测试板CAF图形评价后只能知道测试图形是否会CAF失效，但具体是哪里两个孔间CAF失效以及具体的失效点在孔间的哪个具体位置、失效的形态是什么样子以及其CAF失效的具体原因是什么则很难分析到，如果找不到失效点，不知道具体的失效形态，不清楚具体的失效原因，那么就无法制定对应的预防措施，也就无法防止CAF的再发生。

发明内容

基于此，本发明在于克服现有技术的缺陷，提供一种可靠性测试板及基于该测试板进行的PCB板孔间CAF失效分析方法，通过所述方法，可给CAF的改善措施的制定提供有力的依据，从而有利于CAF的改善。

其技术方案如下：

一种可靠性测试板，包括测试基板，该测试基板上设有正极测试端、负极测试端以及两排测试镀通孔，每排测试镀通孔均包括第一镀通孔和第二镀通孔，且第一镀通孔和第二镀通孔逐一间隔排列，每排测试镀通孔中的第一镀通孔与相邻另一排测试镀通孔中的第二镀通孔相对，每排测试镀通孔均对应有第一汇总线和第二汇总线，第一汇总线连接在所述的正极测试端上，第二汇总线连接在所述的负极测试端上；在每排测试镀通孔中，每个第一镀通孔分别通过第一连接线与该排测试镀通孔对应的第一汇总线相连接，且每个第一连接线与相应的第一汇总线的连接点相互间隔，形成第一孔链；在每排测试镀通孔中，每个第二镀通孔分别通过第二连接线与该排测试镀通孔相对应的第二汇总线相连接，且每个第二连接线与相应的第二汇总线的连接点相互间隔，形成第二孔链。

通过该可靠性测试板，可以实现下述的PCB板孔间CAF失效分析方法。

在其中一个实施例中，所述的可靠性测试板具有正面和反面，所述的第一汇总线和第一连接线设在所述测试基板的正面上，所述第二汇总线和第二连接线设在所述测试基板的反面上。其目的在于避免线路之间的干扰。

在其中一个实施例中，所述的正极测试端为正极镀通孔，所述的负极测试端为负极镀通孔。

一种PCB板孔间CAF失效分析方法，包括以下步骤：

提供一种权利要求1所述的可靠性测试板，并通过分半测试法在可靠性测试板上确定发生CAF的两个相邻的失效孔的位置；

沿可靠性测试板所在平面，对可靠性测试板上发生CAF的两个失效孔及其邻近区域进行水平研磨，直至导电阳极丝出现在研磨剖面上；

垂直于所述可靠性测试板所在平面，并沿所述导电阳极丝对两个失效孔及其邻近区域进行切片，观察孔壁的质量及表观，依此分析CAF形成的原因。

进一步地，将垂直切片下的玻纤区域在扫描电镜下进行放大，并观察所述玻纤区域的表观，依此进一步分析CAF形成的原因。

进一步地，在经过所述的的切片后，通过金相显微镜观察所述失效孔孔壁的质量及表观。

进一步地，所述的分半测试法包括以下步骤：

A、选择一个第一孔链，通过切断该第一孔链的第一汇总线，将第一孔链隔断为两个子孔链；

B、分别测量两个子孔链与所述负极测试端的阻值，选择阻值小于10MΩ的那个子孔链，并将该子孔链以切断第一汇总线的方式继续隔断为两个子孔链；

C、重复B步骤，直至测得只有一个第一镀通孔的子孔链与负极测试端的阻值也小于10MΩ时，即可确定该子孔链的第一镀通孔为失效孔；

D、分别测量与所述失效孔相邻的两个第二镀通孔与该失效孔之间的阻值，将阻值小于10MΩ所对应的那个第二镀通孔也确定为失效孔，即可确定发生CAF的两个相邻的失效孔的位置。

当然，所述的分半测试法也可以以下方式进行，具体包括以下步骤：

A、选择一个第二孔链，通过切断该第二孔链的第二汇总线，将第二孔链隔断为两个子孔链；

B、分别测量两个子孔链与所述正极测试端的阻值，选择阻值小于10MΩ的那个子孔链，并将该子孔链以切断第二汇总线的方式继续隔断为两个子孔链；

C、重复B步骤，直至测得只有一个第二镀通孔的子孔链与正极测试端的阻值也小于10MΩ时，即可确定该子孔链的第二镀通孔为失效孔；

D、分别测量与所述失效孔相邻的两个第一镀通孔与该失效孔之间的阻值，将阻值小于10MΩ所对应的那个第一镀通孔也确定为失效孔，即可确定发生CAF的两个相邻的失效孔的位置。