[发明专利]一种码盘光电传感器检测电路以及码盘检测系统

说明书

技术领域

本发明涉及设备检测技术领域，更具体的说，是涉及一种码盘光电传感器检测电路以及码盘检测系统。

背景技术

如图1所示，现有技术中，对码盘1的计数是通过检测码盘叶片2遮挡光电传感器3的次数来实现。具体的，在光电传感器3上设置有发光管4以及光敏接收管5，当受到码盘叶片遮挡时，光敏接收管5关断，当未受到码盘叶片遮挡时，光敏接收管5导通。

传统的光电码盘检测电路如图2所示，其检测电路101的输入端与光电传感器3的输出端相连，即对应图2中的A点。通常，当光敏接收管关断时，此时由于上拉电阻R1存在，A点的电压为VCC1；当光敏接收管5导通时，此时，A点电压被拉低为0。

而当A点的电压高于某一上阀值（VT+）时，则定义A点的输入信号是高电平信号，经过反相器U1后，B点的输出信号为低电平。同理，当A点电压低于某一下阀值（VT-）时，则定义A点的输入信号是低电平信号，经过反相器U1后，B点的输出信号为高电平。需要说明的是，上阀值为反相器U1输入端能检测到信号从低电平变为高电平所需的电压的下限值。相应的，下阀值为反相器U1输入端能检测到信号从高电平变为低电平所需的上限值。

但发明人发现：现有技术中，光电传感器表面上的灰尘积到一定程度时，即使光电传感器没有被码盘叶片遮挡，光电传感器也会输出一个高于VT+的电压信号，这时，光电码盘检测电路就会误认为输入信号是一个高电平信号，从而使得外接微控制器误以为光电传感器被码盘叶片遮挡，对码盘进行计数，导致计数结果不准确。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种码盘光电传感器检测电路以及码盘检测系统，以克服现有技术中灰尘堆积导致的码盘计数不准确的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种码盘光电传感器检测电路，包括：第一比较电路以及第二比较电路；

所述第一比较电路的输入端与外接光电传感器的输出端相连，用于检测所述外接光电传感器的输出信号的电压变化量，根据所述电压变化量以及第一基准电压，输出第一电压信号；

所述第二比较电路的输入端与所述第一比较电路的输出端相连，用于将所述第一电压信号转化为一TTL电平信号，以使外接微控制器根据所述TTL电平信号对码盘叶片进行计数。

优选的，所述第一比较电路包括：第一电阻、第一电容、第二电阻、第三电阻以及第一运算放大器；

所述第一电阻的第一端接电压VCC1，所述第一电阻的第二端分别与所述第一电容的第一端以及外接光电传感器的输出端相连，所述第一电容的第二端通过所述第二电阻分别与所述第一运算放大器的反相输入端以及所述第三电阻的第一端相连，所述第一运算放大器的同相输入端接所述第一基准电压，所述第一运算放大器的输出端与所述第三电阻的第二端相连，且作为所述第一比较电路的输出端。

优选的，所述第二比较电路包括：第二运算放大器；

所述第二运算放大器的同相输入端与所述第一比较电路的输出端相连，所述第二运算放大器的反相输入端接所述第二基准电压，所述第二运算放大器的输出端作为所述第二比较电路的输出端。

优选的，所述第一基准电压大于所述第二基准电压。

优选的，所述第三电阻的阻值远远大于所述第二电阻的阻值。

一种码盘检测系统，包括：光电传感器以及码盘光电传感器检测电路。

优选的，所述第一比较电路包括：第一电阻、第一电容、第二电阻、第三电阻以及第一运算放大器；

所述第一电阻的第一端接电压VCC1，所述第一电阻的第二端分别与所述第一电容的第一端以及外接光电传感器的输出端相连，所述第一电容的第二端通过所述第二电阻分别与所述第一运算放大器的反相输入端以及所述第三电阻的第一端相连，所述第一运算放大器的同相输入端接所述第一基准电压，所述第一运算放大器的输出端与所述第三电阻的第二端相连，且作为所述第一比较电路的输出端。

优选的，所述第二比较电路包括：第二运算放大器；

所述第二运算放大器的同相输入端与所述第一比较电路的输出端相连，所述第二运算放大器的反相输入端接所述第二基准电压，所述第二运算放大器的输出端作为所述第二比较电路的输出端。

优选的，所述第一基准电压大于所述第二基准电压。

优选的，所述第三电阻的阻值远远大于所述第二电阻的阻值。