[发明专利]一种码盘光电传感器检测电路以及码盘检测系统

权利要求书

1.一种码盘光电传感器检测电路，其特征在于，包括：第一比较电路以及第二比较电路；

所述第一比较电路的输入端与外接光电传感器的输出端相连，用于检测所述外接光电传感器的输出信号的电压变化量，根据所述电压变化量以及第一基准电压，输出第一电压信号；

所述第二比较电路的输入端与所述第一比较电路的输出端相连，用于将所述第一电压信号转化为一TTL电平信号，以使外接微控制器根据所述TTL电平信号对码盘叶片进行计数。

2.根据权利要求1所述的码盘光电传感器检测电路，其特征在于，所述第一比较电路包括：第一电阻、第一电容、第二电阻、第三电阻以及第一运算放大器；

所述第一电阻的第一端接电压VCC1，所述第一电阻的第二端分别与所述第一电容的第一端以及外接光电传感器的输出端相连，所述第一电容的第二端通过所述第二电阻分别与所述第一运算放大器的反相输入端以及所述第三电阻的第一端相连，所述第一运算放大器的同相输入端接所述第一基准电压，所述第一运算放大器的输出端与所述第三电阻的第二端相连，且作为所述第一比较电路的输出端。

3.根据权利要求1所述的码盘光电传感器检测电路，其特征在于，所述第二比较电路包括：第二运算放大器；

所述第二运算放大器的同相输入端与所述第一比较电路的输出端相连，所述第二运算放大器的反相输入端接所述第二基准电压，所述第二运算放大器的输出端作为所述第二比较电路的输出端。

4.根据权利要求1所述的码盘光电传感器检测电路，其特征在于，所述第一基准电压大于所述第二基准电压。

5.根据权利要求2所述的码盘光电传感器检测电路，其特征在于，所述第三电阻的阻值远远大于所述第二电阻的阻值。

6.一种码盘检测系统，其特征在于，包括：光电传感器以及如权利要求1所述的码盘光电传感器检测电路。

7.根据权利要求6所述的码盘检测系统，其特征在于，所述第一比较电路包括：第一电阻、第一电容、第二电阻、第三电阻以及第一运算放大器；

所述第一电阻的第一端接电压VCC1，所述第一电阻的第二端分别与所述第一电容的第一端以及外接光电传感器的输出端相连，所述第一电容的第二端通过所述第二电阻分别与所述第一运算放大器的反相输入端以及所述第三电阻的第一端相连，所述第一运算放大器的同相输入端接所述第一基准电压，所述第一运算放大器的输出端与所述第三电阻的第二端相连，且作为所述第一比较电路的输出端。

8.根据权利要求6所述的码盘检测系统，其特征在于，所述第二比较电路包括：第二运算放大器；

所述第二运算放大器的同相输入端与所述第一比较电路的输出端相连，所述第二运算放大器的反相输入端接所述第二基准电压，所述第二运算放大器的输出端作为所述第二比较电路的输出端。

9.根据权利要求6所述的码盘检测系统，其特征在于，所述第一基准电压大于所述第二基准电压。

10.根据权利要求7所述的码盘检测系统，其特征在于，所述第三电阻的阻值远远大于所述第二电阻的阻值。