[发明专利]用于平面型电磁屏蔽材料的屏蔽效能法兰同轴测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试装置，更特定地，本发明涉及一种二次曲线型法兰同轴测试装置，用于测试平面型电磁屏蔽材料的屏蔽效能。

背景技术

随着现代社会电子信息技术的快速发展，各种电子信息产品的使用数量急剧增加，电磁波向人们生活的自然环境辐射的电磁能量正以每年10％左右的速度快速增长，电磁辐射污染随之变得日益严重，已成为继大气污染、水污染、噪音污染之后的第4大污染源。电磁波的辐射不仅会影响和干扰电子设备的正常运行，泄漏出来的电磁波还会影响计算机、手机等要求保密的通信工具的信息安全，电磁波的过量辐射还会威胁到人类的身体健康。研究表明，当电磁波辐射量达到一定程度时，长时间在这种环境下会引起免疫系统、心血管系统、神经系统等功能的紊乱和正常运转失调，从而诱发各种疾病，尤其是一些慢性病。电磁辐射的危害多年前就引起许多国家的高度重视，尤其是一些发达国家由于其生活水平较高，更加重视，已经发布了一些环境电磁辐射的标准和规定，如德国电气技术协会、美国联邦通讯委员会等。国际无线电干扰特别委员会CISPR也制定了电磁波辐射干扰的国际标准供各国参考。电磁辐射的危害也引起了我国政府的高度重视，我国于1988年制定了关于电磁兼容的EMC标准，从2000年开始强制执行。

电磁辐射是看不见、摸不着的，它对人体的伤害往往容易被人们所忽略，尤其是生活中的电磁波存在的危害，如手机辐射的危害程度，一直还存在争议，但研究已表明，它对人体的伤害确实是存在的，且其危害是与日俱增的。人的身体作为一个有机体，无时无刻不在向外辐射电磁波，这是很正常的，但各种人造辐射源的强度远大于人体自然的辐射，进而打破了这种平衡，对人体产生危害。

如何防止电磁辐射对人的危害成为一个热门的探讨话题。各种防电磁辐射屏蔽材料应运而生，在电力、航空、航天、环境、通信、国防以及人体健康防护等领域有着广泛的应用，其中屏蔽效能是评价屏蔽材料的一个关键指标。

当前涉及平面型电磁屏蔽材料屏蔽效能的测试方法的标准有：ASTM D4935-2010、SJ20524-1996、GJB6190-2008、GB/T30142-2013（将于2014年5月1日开始实施），当前这些标准主要规定了屏蔽室法以及法兰同轴测试方法。

其中屏蔽室法是一种既非远场亦非近场或介于两者之间的方法，因为一般生活中的辐射源主要为近场源或介于远场与近场之间，辐射环境是很复杂的，难以单一的模拟真实环境，屏蔽室法很好地解决了模拟真实复杂的电磁环境这一难题。屏蔽室法不仅能测试平面材料，还能测试复杂形状的材料。

法兰同轴测试法是美国国家标准局(NBS)推荐的一种测量屏蔽材料的方法，是一种模拟远场环境的屏蔽材料测试方法。这种方法根据电磁波在同轴传输线内传播的主模是横电磁波这一原理，模拟自由空间远场的传输过程，对电磁辐射屏蔽织物进行平面波的测定，并且相比另一种远场测试方法——同轴传输线法而言，改进了样品与同轴线的连接，使样品和法兰盘接触时的阻抗减小，使得测试结果的重复性变好。

在描述法兰同轴测试方法的标准中，ASTM D4935-2010、SJ20524-1996、GJB6190-2008中描述的30MHz～1.5GHz法兰同轴测试装置、GB/T30142-2013描述的30MHz～3GHz法兰同轴测试装置均采用锥形过渡段（公式：y=ax+b）连接法兰测试夹具与N型同轴接口，以保证内外导体的连续性，达到阻抗匹配。

在申请人之前申请的实用新型专利（专利号ZL201020505577.5）中，描述了具有改进的锥形过渡段的测试装置。

但是，现有技术中的均是线性过渡段，虽然在一定程度上弥补了N型同轴接口与法兰测试夹具的突变，但仍会产生一定损耗，在研究过程中发现，相比线性过渡段，由于二次曲线型过渡段提供了更理想的电容补偿，因此引起更小回波损耗。所以，提供了一种精度更高的具有二次曲线型过渡段的法兰同轴测试装置。

发明内容

本发明的目的在于提供一种改进的平面型电磁屏蔽材料屏蔽效能测试装置，该装置对法兰同轴测试装置的过渡段几何结构作了改进，以提高测量精度。

申请人通过大量实践操作，发现采用几何形状为二次曲线的过渡段能大大提高测试精度。