[发明专利]用于平面型电磁屏蔽材料的屏蔽效能法兰同轴测试装置

权利要求书

1.一种用于平面型电磁屏蔽材料的屏蔽效能法兰同轴测试装置，包括：

N型同轴接口（1）；

外导体（3，5，7），所述外导体包括N型同轴接口的外导体部分（3）、过渡段外导体部分（5）、和带法兰盘的测试夹具外导体部分（7），且所述过渡段外导体部分（5）连接在所述N型同轴接口的外导体部分（3）和所述带法兰盘的测试夹具外导体部分（7）之间；

内导体（2，4，6），所述内导体包括N型同轴接口的内导体部分（2）、过渡段内导体部分（4）、和带法兰盘的测试夹具内导体部分（6），且所述过渡段内导体部分（4）连接在所述N型同轴接口的内导体部分（2）和所述带法兰盘的测试夹具内导体部分（6）之间；

其特征在于，所述过渡段外导体部分（5）的内表面和所述过渡段内导体部分（4）具有二次曲线型轮廓。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述过渡段外导体部分（5）的内表面和所述过渡段内导体部分（4）具有抛物线型轮廓。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述过渡段外导体部分（5）的内表面和所述过渡段内导体部分（4）具有双曲线型轮廓。

4.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述过渡段外导体部分（5）的内表面和所述过渡段内导体部分（4）具有符合不同的抛物线方程式的不同轮廓。

5.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述过渡段外导体部分（5）内表面和所述过渡段内导体部分（4）具有符合不同的双曲线方程式的不同轮廓。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的测试装置，其特征在于，所述过渡段外导体部分（5）和所述过渡段内导体部分（4）在所述测试装置的水平中心线（L）上的投影线段不重合。

7.根据权利要求1-5中任一项所述的测试装置，其特征在于，所述过渡段外导体部分（5）和所述过渡段内导体部分（4）在所述测试装置的水平中心线（L）上的投影线段重合。