[发明专利]一种有机发光显示器件的阵列基板及其制备方法在审
申请号: | 201310715251.3 | 申请日: | 2013-12-23 |
公开(公告)号: | CN104733471A | 公开(公告)日: | 2015-06-24 |
发明(设计)人: | 刘巍;魏朝刚 | 申请(专利权)人: | 昆山国显光电有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L23/498;H01L27/32;H01L21/84;H01L21/48 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 张秋越 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 有机 发光 显示 器件 阵列 及其 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及有机发光显示器件领域,具体涉及一种有机发光显示器件的阵列基板及其制备方法。
背景技术
有机发光显示器件(OLED )是主动发光器件。相比现在的主流平板显示技术薄膜晶体管液晶显示器(TFT -LCD ) , OLED 具有高对比度,广视角,低功耗,体积更薄等优点,有望成为继LCD之后的下一代平板显示技术,是目前平板显示技术中受到关注最多的技术之一。 目前OLED的阵列基板通常由多层金属及多层绝缘膜构成,可以采用如钼,钼钨,铝,钕化铝(Mo,MoW,Al,AlNd)等金属通过溅镀的方式形成第一层金属并作为TFT的栅极,可以采用化学气相沉积的方式形成SiNx,SiO2等绝缘层作为TFT的栅极绝缘层,可以采用溅镀的方式形成如钛铝钛,钼铝钼,钼(Ti/Al/Ti,Mo/Al/Mo,Mo)等金属并作为TFT的源极和漏极;可以采用化学气相沉积的方式形成SiNx,SiO2等绝缘层作为栅极和源漏极间的隔离绝缘层,AMOLED顶发光器件阳极普遍采用透明电极/反射电极/透明电极的结构(如氧化铟锡/银/氧化铟锡,ITO/Ag/ITO),同时在外围端子区域和柔性线路板(FPC)及IC 邦定的区域也是采用阳极来和FPC金手指接触形成导通连接,但是由于电极通电后会有高低电位的变化,同时由于水氧进入,非常容易使得ITO及Ag间发生电化学腐蚀,从而造成走线的短路或断路。
结合图1、2所示, OLED包括显示区A’和焊盘区B,显示区A’位于衬底10的预定区域上以显示图像。显示区A’具有单元像素阵列(图中未示出)和在该单元像素阵列周围的驱动电路(图中未示出),其中该单元像素阵列具有按矩阵排列的单元像素,并且驱动电路驱动单元像素。每个单元像素包括至少一个薄膜晶体管(图中未示出)和与其电连接的一像素电极(图中未示出)。该薄膜晶体管包括一有源层、栅电极和源/漏电极。该像素电极可具有导电层的至少一个多层结构,封装区域C包围显示区A’,该封装区域C保护显示区A’中的单元像素免受外部湿气和氧气的影响。此外,在封装区域C处施加粘合衬底10和封装衬底的密封剂。
焊盘区B位于显示区A’和封装区域C的外侧,并且其是用于将施加电信号的外部模块连接至显示区A’的区域。在显示区A’和焊盘区B之间布置用于传输该电信号的各种布线。
焊盘区B具有与这些布线电连接的至少一个焊盘电极。焊盘电极可由与栅电极或源/漏电极相同的层形成。当焊盘电极由与源/漏电极相同的层形成时,栅极焊盘可置于焊盘电极之下并由与栅电极相同的层形成。焊盘电极或者栅极焊盘可与布线电连接。在此情况下,端子焊盘即源/漏电极相同的层形成的焊盘可与外部模块连接。
具体地,目前传统的有源矩阵OLED阵列基板的剖视截面示意图如图1。衬底10包括有显示区(显示区除薄膜晶体管区外还包括有电容器等结构图中未示出)的薄膜晶体管区A和焊盘区B。缓冲层11形成于衬底10上,覆盖衬底10,有源层20形成于缓冲层上,位于薄膜晶体管区A上,其中该有源层20具有沟道区201和位于沟道区201两侧的源/漏区202。栅极绝缘层30形成于有源层20上,并对应覆盖衬底10的整个表面上。栅电极40形成于栅极绝缘层30上,对应于位于沟道区201的上方。随后,层间绝缘层50形成于栅电极上,并对应覆盖衬底的整个表面。在薄膜晶体管区A的层间绝缘层50和栅极绝缘层30形成有显露出源/漏区202的源/漏接触孔。分隔开的两个源/漏电极61形成于层间绝缘层50上,其中源/漏电极61通过源/漏接触孔与源/漏区202耦合。同时,焊盘电极62(焊盘电极62与源/漏电极61由同一金属层刻蚀形成)形成于焊盘区B的层间绝缘层50上。平坦化层70形成于源/漏电极61和焊盘电极62上,对应覆盖衬底的整个表面上。平坦化层70上形成有暴露出源/漏电极61中任一个的通孔701和暴露焊盘电极62的焊盘接触孔702。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆山国显光电有限公司;,未经昆山国显光电有限公司;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310715251.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:含锗鳍与化合物半导体鳍的集成
- 下一篇:用于静电防护的半导体结构
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的