[发明专利]MiM电容器有效
申请号: | 201310695758.7 | 申请日: | 2013-12-17 |
公开(公告)号: | CN104052451B | 公开(公告)日: | 2017-11-03 |
发明(设计)人: | 王建荣;陈焕能;周淳朴;邱垂青 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H03K19/003 | 分类号: | H03K19/003 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司11409 | 代理人: | 章社杲,孙征 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | mim 电容器 | ||
技术领域
本发明总的来说涉及电容器,更具体地,涉及一种MiM电容器。
背景技术
一些电路被配置为将一个或多个电气部件耦合至其它一个或多个电气部件。这种电路一般存在于诸如个人计算机和手机的各种设备的电路中。这种电路一般也存在于存储电路中。
发明内容
根据本发明的一个方面,提供了一种控制一个或多个电容器的方法,包括:确定包括一个或多个电容器的一组电容器中的第一电容器具有缺陷;以及响应于确定,禁用第一电容器,并且启用第二电容器。
优选地,第一电容器和第二电容器中的至少一个包括HD MiM电容器。
优选地,第二电容器具有以下情况中的至少一种:在确定之前被禁用;和在确定之前通过电压源充电。
优选地,该方法包括:确定第二电容器具有第二缺陷;以及响应于第二电容器具有第二缺陷的确定,禁用第二电容器,并且启用第三电容器。
优选地,缺陷对应于短路。
优选地,禁用包括使晶体管截止。
优选地,该方法包括:使用温度计检测器对包括一个或多个电容器的一组电容器中的与一个或多个缺陷相关的电容器的个数进行计数。
根据本发明的另一方面,提供了一种系统,包括:第一电容器,连接至与电压源连接的晶体管;第二电容器,被配置为响应于确定第一电容器具有缺陷而被启用;以及温度计检测器,被配置为对包括一个或多个电容器的一组电容器中的与一个或多个缺陷相关的电容器的个数进行计数,第 一电容器被计入其中。
优选地,第一电容器和第二电容器中的至少一个连接至温度计检测器。
优选地,温度计检测器被配置为提供第一输出或第二输出,第一输出与接通一个或多个备份电容器的请求相关,第二输出与关断一个或多个备份电容器的请求相关。
优选地,第一电容器被配置为响应于确定而被禁用。
优选地,禁用包括使晶体管截止。
优选地,截止包括使用包括门和反相器的逻辑电路。
优选地,第一电容器经由包括晶体管的开关连接至电压源。
优选地,该系统包括第三电容器,第三电容器被配置为响应于确定第二电容器具有第二缺陷而被启用。
根据本发明的又一方面,提供了一种系统,包括:第一电子设备;第二电子设备,被配置为响应于确定第一电子设备具有缺陷而被启用;以及温度计检测器,连接至第一电子设备,并且被配置为对具有一个或多个电子设备的一组电子设备中的与一个或多个缺陷相关的电子设备的个数进行计数,第一电子设备被计入其中。
优选地,第二电子设备连接至温度计检测器。
优选地,温度计检测器被配置为提供第一输出或第二输出,第一输出与接通一个或多个备份电容器的请求相关,第二输出与关断一个或多个备份电容器的请求相关。
优选地,第一电子设备包括连接至与第一电压源连接的第一晶体管的第一电容器。
优选地,第二电子设备包括连接至与第二电压源连接的第二晶体管的第二电容器。
附图说明
图1是示出了根据一些实施例的控制一个或多个电子设备的方法的流程图。
图2是示出了根据一些实施例的控制一个或多个电子设备的方法的流 程图。
图3是根据一些实施例的一个或多个电子设备的示图。
图4是根据一些实施例的一个或多个电子设备的示图。
图5是根据一些实施例的一个或多个电子设备的示图。
图6是根据一些实施例的一个或多个电子设备的示图。
图7是根据一些实施例的一个或多个电子设备的示图。
具体实施方式
现在参考附图描述所述主题,其中相似的参考数字通常用于指代说明书中相似的元件。在下面的描述中,为了说明,为了理解所述主题而描述许多具体细节。然而,显然,没有这些具体细节也可以实践所述主题。在其它情况下,为了便于描述所述主题而以框图的形式示出了结构和设备。
例如,本发明提供了一种或多种电路以及使用这种电路的一项或多项技术。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310695758.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:曲面法矢测量精度的优化方法
- 下一篇:密码处理方法及装置