[发明专利]用于检测缺陷像素的设备和方法

说明书

公开了一种用于检测缺陷像素的设备和方法。所述设备包括：计算器，计算包括围绕目标像素并排列在多个预定方向中的一个方向上的邻近像素的邻近像素组的像素值的梯度；识别单元，从所述多个预定方向之中识别由计算器计算的梯度最小的方向；确定器，基于目标像素的像素值和包括在邻近像素组中的邻近像素的像素值之间的差，确定目标像素是否为缺陷像素，所述邻近像素在由识别单元识别的方向上与目标像素颜色相同并与目标像素相邻。

本申请要求于2012年12月19日提交到日本专利局的第2012-0277230号日本专利申请以及于2013年08月28日提交到韩国知识产权局的第10-2013-0102660号韩国专利申请的权益，其公开完整地包含于此，以资参考。

技术领域

本发明的一个或更多个实施例涉及一种用于检测缺陷像素的设备和方法，其可应用于四个不同的滤色镜被分配到每个2×2像素阵列的成像装置。

背景技术

成像装置，诸如电荷耦合装置（CCD）或互补金属氧化物半导体图像传感器（CIS），不可避免地导致缺陷像素。

对于由制造工艺造成的像素缺陷，当像素缺陷被转发给工厂出货时成像装置记住缺陷的位置信息，以在执行拍摄时基于缺陷的位置信息校正缺陷。除此之外，当执行拍摄时，成像装置动态地检测和校正发生在已制成的成像装置中的像素缺陷。

作为确定捕获到的图像的目标像素是否为缺陷像素的技术，比较目标像素的像素值和具有与目标像素相同颜色的相邻像素的像素值的方法，以确定目标像素是否为孤立像素。然而，如果缺陷像素存在于捕获到的图像的三行之上或周围，则很难利用具有与目标像素相同颜色的相邻像素来检测缺陷像素。因此，如专利文件1中所公开，拜耳排列（Bayerarrangement）的成像装置通过使用以格子图案排列在目标像素周围的绿色(G)像素来检测边缘方向并基于在边缘方向上相邻于目标像素的绿色(G)像素的像素信息来确定目标像素是否为缺陷像素，以改善检测性能。

【现有技术文件1】日本公开号为2008-154276的专利文件

发明内容

然而，对于其中以每个2×2像素周期排列的四个不同的滤色镜的成像装置而言，不存在适合检测类似于拜耳排列的G像素的边缘方向的像素。同样，很难通过使用具有与目标像素相同颜色的相邻像素检测存在于捕获到的图像的三行之上或周围的缺陷像素。

本发明的一个或更多个实施例包括用于检测缺陷像素的设备和方法，通过所述设备和方法，四个不同的滤色镜以每个2×2像素周期被分配的成像装置基于多个彩色像素确定存在于捕获到的图像的三行之上或周围的缺陷像素。

其他方面将在随后的描述中部分地阐述，并且部分地从描述中将是明显的，或可通过提出的实施例的实践得知。

根据本发明的一个或更多个实施例，一种用于检测缺陷像素的设备，包括：计算器，计算包括围绕目标像素并排列在多个预定方向中的一个方向上的邻近像素的邻近像素组的像素值的梯度；识别单元，从所述多个预定方向之中识别由计算器计算的梯度最小的方向；确定器，基于目标像素的像素值和包括在邻近像素组中的邻近像素的像素值之间的差，确定目标像素是否为缺陷像素，所述邻近像素在由识别单元识别的方向上与目标像素颜色相同并与目标像素相邻。

邻近像素组可包括在由识别单元识别的方向上与目标像素颜色相同并与目标像素相邻的邻近像素。

计算器可基于针对在预定的方向上与目标像素相邻的邻近像素组的彩色像素的组合分别计算的像素值之间的差来计算梯度。

如果目标像素的像素值在由识别单元识别的方向上与目标像素相邻的两个相同颜色的相邻像素的像素值之间的相对大小关系相同，并且目标像素的像素值和所述两个相同颜色的相邻像素的像素值之间的所有差均大于阈值，则确定器可确定目标像素是缺陷像素。