[发明专利]用于检测缺陷像素的设备和方法有效
| 申请号: | 201310681177.8 | 申请日: | 2013-12-12 |
| 公开(公告)号: | CN103888690B | 公开(公告)日: | 2018-08-03 |
| 发明(设计)人: | 平野真理子 | 申请(专利权)人: | 韩华泰科株式会社 |
| 主分类号: | H04N5/367 | 分类号: | H04N5/367 |
| 代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 王兆赓;李云霞 |
| 地址: | 韩国庆尚*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 检测 缺陷 像素 设备 方法 | ||
1.一种用于检测缺陷像素的设备,所述设备包括:
计算器,计算包括围绕目标像素并排列在多个预定方向中的一个方向上的邻近像素的邻近像素组的像素值的梯度;
识别单元,从所述多个预定方向之中识别由计算器计算的梯度最小的方向;以及
确定器,基于目标像素的像素值和包括在邻近像素组中的在由识别单元识别的方向上与目标像素相邻且与目标像素颜色相同的第一邻近像素的像素值之间的差,确定目标像素是否为缺陷像素,
其中,计算器基于针对在预定的方向上与目标像素相邻的邻近像素组的彩色像素的组合分别计算的像素值之间的差来计算梯度。
2.根据权利要求1所述的设备,其中,如果目标像素的像素值和在由识别单元识别的方向上与目标像素相邻且与目标像素颜色相同的两个相邻像素的像素值之间的相对大小关系相同,并且目标像素的像素值和所述两个相邻像素的像素值之间的所有差均大于阈值,则确定器确定目标像素是缺陷像素。
3.根据权利要求1所述的设备,所述设备还包括:
校正器,校正目标像素的像素值,
其中,如果确定器确定目标像素是缺陷像素,则校正器基于邻近像素的像素值校正目标像素的像素值。
4.根据权利要求3所述的设备,其中,校正器基于邻近像素组中的在由识别单元识别的方向上与目标像素相邻且与目标像素颜色相同的第一邻近像素的像素值,来校正目标像素的像素值。
5.根据权利要求1所述的设备,其中,目标像素和邻近像素是形成通过成像装置输出的图像的像素,其中,四个不同的滤色镜以每个2×2像素阵列的矩阵排列在图像上。
6.一种检测缺陷像素的方法,所述方法包括:
计算包括围绕目标像素并排列在多个预定方向中的一个方向上的邻近像素的邻近像素组的像素值的梯度;
从所述多个预定方向之中识别计算的梯度最小的方向;以及
基于目标像素的像素值和包括在邻近像素组中的在识别的方向上与目标像素相邻且与目标像素颜色相同的第一邻近像素的像素值之间的差,确定目标像素是否为缺陷像素,
其中,基于针对在预定方向上与目标像素相邻的邻近像素组的彩色像素的组合分别计算的像素值之间的差,来计算所述梯度。
7.根据权利要求6所述的方法,其中,如果目标像素的像素值和在识别的方向上与目标像素相邻且与目标像素颜色相同的两个相邻像素的像素值之间的相对大小关系相同,并且目标像素的像素值和两个相同颜色的相邻像素的像素值之间的所有差均大于阈值,则将目标像素确定为缺陷像素。
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