[发明专利]基于Labview 的热电偶自动测温分析方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及测控分析领域，尤其涉及一种基于Labview的热电偶自动测温分析方法及系统。

背景技术

在科研研究相关的热处理及工业生产中，需要对温度进行测量及数据分析。传统的方法是用仪表检测及人工记录，不仅费时且可能遗漏重要数据、并存在读数不准等问题。另外，一些检测设备价格昂贵，且不便于移动。

目前，基于虚拟仪器技术的检测设备中使用最为普遍的计算机语言是美国NI公司的Labview。但是Labview一般只支持NI的硬件，且NI的数据采集卡价格昂贵。普通的数据采集卡则没有很好的软件支持，功能简单。

发明内容

本发明旨在至少解决上述技术问题之一。

为此，本发明的第一个目的在于提出一种基于Labview的热电偶自动测温分析方法方法。该方法通过上位机触发温度采样频率指令和/或采集通道切换指令来调整数据采集卡的温度采样频率和/或切换数据采集卡的采样通道，使得Labview软件能够普遍适用于不同的数据采集卡。

本发明的第二个目的在于提出一种基于Labview的热电偶自动测温分析系统。

为了实现上述目的，本发明第一方面实施例的基于Labview的热电偶自动测温分析方法，包括以下步骤：将数据采集卡分别与温度检测装置和上位机进行连接；待连接完成后，通过所述上位机选择所述数据采集卡占用的端口以及所述温度检测装置在所述数据采集卡上占用的采集通道；所述上位机接收所述数据采集卡采集的由所述温度检测装置检测到的被测设备的温度数据；根据所述采样点的温度数据生成温度随时间的变化图以及温度变化速度曲线图；以及根据所述温度随时间的变化图以及温度变化速度曲线图对所述被测设备进行性能分析。

根据本发明实施例的基于Labview的热电偶自动测温分析方法，通过上位机触发温度采样频率指令和/或采集通道切换指令来调整数据采集卡的温度采样频率和/或切换数据采集卡的采样通道，使得Labview软件能够普遍适用于不同的数据采集卡。另外，通过Labview软件对被测设备或环境的温度数据进行实时地处理分析便于直接观测或其他观测。

在一些示例中，在所述上位机接收所述数据采集卡采集的由所述温度检测装置检测到的被测设备的温度数据之后，还包括：对所述温度数据进行滤波。

在一些示例中，在所述上位机接收所述数据采集卡采集的由所述温度检测装置检测到的被测设备的温度数据之后，还包括：对所述温度数据进行滤波。

在一些示例中，还包括：触发温度采样频率指令和/或采集通道切换指令；根据所述温度采样频率指令和/或采集通道切换指令调整所述数据采集卡的温度采样频率和/或切换所述数据采集卡的采样通道。

在一些示例中，还包括：当所述上位机判断所述被测设备的温度高于预设值时，进行报警提示。

本发明第二方面实施例的基于Labview的热电偶自动测温分析系统，包括：温度检测装置，用于检测温度数据；数据采集卡，用于采集所述温度检测装置检测到的所述温度数据；上位机，用于对所述温度数据进行分析以获取分析结果以及显示所述温度数据和所述分析结果。

根据本发明实施例的基于Labview的热电偶自动测温分析系统，通过上位机触发温度采样频率指令和/或采集通道切换指令来调整数据采集卡的温度采样频率和/或切换数据采集卡的采样通道，使得Labview软件能够普遍适用于不同的数据采集卡。另外，通过Labview软件对被测设备或环境的温度数据进行实时地处理分析便于直接观测被测设备或环境的温度信息。

在一些示例中，所述数据采集卡是为ADAM4118，具有8个采集通道。

在一些示例中，所述上位机还用于对所述温度数据进行滤波。

在一些示例中，所述上位机还用于调整滤波阶数。

在一些示例中，所述上位机还用于：触发温度采样频率指令和/或采集通道切换指令；根据所述温度采样频率指令和/或采集通道切换指令调整所述数据采集卡的温度采样频率和/或切换所述数据采集卡的采样通道。

在一些示例中，所述上位机还用于：判断所述被测设备的温度是否高于预设值，如果是，则进行报警提示。

本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中，

图1是根据本发明一个实施例的基于Labview的热电偶自动测温分析方法的流程图；