[发明专利]基于Labview 的热电偶自动测温分析方法及系统

权利要求书

1.一种基于Labview的热电偶自动测温分析方法，其特征在于，包括以下步骤：

将数据采集卡分别与温度检测装置和上位机进行连接；

待连接完成后，通过所述上位机选择所述数据采集卡占用的端口以及所述温度检测装置在所述数据采集卡上占用的采集通道；

所述上位机接收所述数据采集卡采集的由所述温度检测装置检测到的被测设备的温度数据；

根据所述采样点的温度数据生成温度随时间的变化图以及温度变化速度曲线图；以及

根据所述温度随时间的变化图以及温度变化速度曲线图对所述被测设备进行性能分析。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述上位机接收所述数据采集卡采集的由所述温度检测装置检测到的被测设备的温度数据之后，还包括：对所述温度数据进行滤波。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述温度数据进行滤波过程中，还包括：调整滤波阶数。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

触发温度采样频率指令和/或采集通道切换指令；

根据所述温度采样频率指令和/或采集通道切换指令调整所述数据采集卡的温度采样频率和/或切换所述数据采集卡的采样通道。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

当所述上位机判断所述被测设备的温度高于预设值时，进行报警提示。

6.一种基于Labview的热电偶自动测温分析系统，其特征在于，包括：

温度检测装置，用于检测温度数据；

数据采集卡，用于采集所述温度检测装置检测到的所述温度数据；

上位机，用于对所述温度数据进行分析以获取分析结果以及显示所述温度数据和所述分析结果。

7.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述数据采集卡为ADAM4118，具有8个采集通道。

8.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述上位机还用于对所述温度数据进行滤波。

9.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述上位机还用于：调整滤波阶数。

10.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述上位机还用于：

触发温度采样频率指令和/或采集通道切换指令；

根据所述温度采样频率指令和/或采集通道切换指令调整所述数据采集卡的温度采样频率和/或切换所述数据采集卡的采样通道。

11.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述上位机还用于：

判断所述被测设备的温度是否高于预设值，如果是，则进行报警提示。