[发明专利]一种模拟IO静电放电电路有效

专利信息
申请号: 201310637009.9 申请日: 2013-12-03
公开(公告)号: CN103646946B 公开(公告)日: 2017-01-04
发明(设计)人: 李志国 申请(专利权)人: 北京中电华大电子设计有限责任公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102209 北京市昌平区北七家未*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 模拟 io 静电 放电 电路
【权利要求书】:

1.一种模拟IO静电放电电路,其特征在于该电路由LDMOS106和P型Diode105构成,LDMOS连接在IO PAD104与GND102之间,提供PAD与GND之间的ESD保护,LDMOS的源极和衬底接于GND102,漏极接于IO PAD104,栅极接于RC延迟电路;P型Diode连接在IO PAD104与VDD101电源之间,提供PAD与电源之间的ESD保护,Diode的阳极接于IO PAD104,阴极接于电源VDD101。

2.如权利要求1所述的电路,其特征在于LDMOS106采用最小设计规则设计,由CMOS标准Silicide工艺加工制造,节省了ESD设计专用的silicide blocking mask,其沟道宽度取值范围为1000um-4000um。

3.如权利要求1所述的电路,其特征在于LDMOS106的栅极由RC延迟电路驱动,电阻R107由多晶电阻或者有源电阻构成,电容C108由PMOS栅电容构成,电阻R107连接于LDMOS106的栅极和GND102之间,电容C108连接于LDMOS106的栅极和VDD101之间,RC乘积的取值范围为150nS-1000nS。

4.如权利要求1所述的电路,其特征在于该IO单元从PAD104至内部CORE103电路之间,直接由金属连接,节省了传统电路中二级保护电路,可最大程度上降低寄生电阻,满足高性能模拟信号应用要求。

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