[发明专利]一种相位延迟测量装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及测量技术领域，尤其涉及一种相位延迟测量装置及方法。

背景技术

随着材料学科的快速发展，对光学材料相位延迟特性的测量提出了很高的要求。

目前公知的相位延迟的测量方法主要有：谐振腔法、相位补偿法、光谱扫描测量法、偏振调制法、光学差拍法、莫尔偏折法，补偿法、双光路相位比较法和光强法等。但这些方法的测量精度低，难以满足需求。

发明内容

本发明提供了一种相位延迟测量装置及方法，测量的准确度可以独立与材料自身特性，且能够极大提高测量的精度。

本发明提供了一种相位延迟测量装置，包括单色偏振光源、分束计、第一探测器、第二探测器、第一转台、格兰泰勒棱镜，所述第一转台用于承载待检测样品沿水平轴转动，且单色偏振光经分束计分光后，其中一束光束一照射到第一探测器，另一束光束二经过待检测样品照射到格兰泰勒棱镜上，并在经过格兰泰勒棱镜后照射到第二探测器上。

优选的，所述单色偏振光源包括：超连续光谱光源，分光系统，光阑；

其中，所述分光系统满足如下条件：经所述分光系统出射的光束的消光比大于55dB。

优选的，该装置还包括：恒温箱，测量时所述待检测样品位于所述恒温箱内。

优选的，该装置还包括：光陷阱，用于吸收经第一探测器和/或第二探测器反射的光束。

本发明还提供了一种利用上述任一项所述的装置实现相位延迟测量的方法，包括：

以光束二为轴按照预设步长旋转所述待检测样品，并记录所述第一探测器探测到的电流I₁和所述第二探测器探测到的电流I₂；

根据所述电流I₁和I₂计算所述待检测样品的相位延迟值。

优选的，当所述装置中包含恒温箱时，所述以光束二为轴按照预设步长旋转所述待检测样品之前，所述方法还包括：将所述恒温箱调节到所述预设的温度。

优选的，所述根据所述电流I₁和I₂计算所述待检测样品的相位延迟值，具体为：利用如下公式计算待检测样品的相位延迟值σ:

δ=2arcsin(Imax-Imin)/(Imax+Imintan2θ2);]]>

其中I=I₁/I₂，I_max和I_max分别为I的最大取值和最小取值，θ为所述格兰泰勒棱镜起偏方向与所述单色偏振光的光路偏振面之间的夹角。

本发明提供的一种相位延迟测量装置包括：分束计、第一探测器、第二探测器、第一转台、格兰泰勒棱镜，所述第一转台用于承载待检测样品沿水平轴转动，且单色偏振光经分束计分光后，其中一束光束一照射到第一探测器，另一束光束二经过待检测样品照射到格兰泰勒棱镜上，并在经过格兰泰勒棱镜后照射到第二探测器上。本发明提供的相位延迟测量装置及方法，其测量的准确度可以独立与材料自身特性，且能够极大提高测量的精度。

附图说明

图1为本发明提供的一种相位延迟测量装置的结构示意图；

图2为本发明提供的一种相位延迟测量的方法流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案，而不能以此来限制本发明的保护范围。

本发明实施例一提供了一种相位延迟测量装置，如图1所示，包括：