[发明专利]一种相位延迟测量装置及方法无效
| 申请号: | 201310636822.4 | 申请日: | 2013-11-29 |
| 公开(公告)号: | CN103604776A | 公开(公告)日: | 2014-02-26 |
| 发明(设计)人: | 冯国进 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号: | G01N21/41 | 分类号: | G01N21/41 |
| 代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 李相雨 |
| 地址: | 100013*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 相位 延迟 测量 装置 方法 | ||
1.一种相位延迟测量装置,其特征在于,包括单色偏振光源、分束计、第一探测器、第二探测器、第一转台、格兰泰勒棱镜,所述第一转台用于承载待检测样品沿水平轴转动,且单色偏振光经分束计分光后,其中一束光束一照射到第一探测器,另一束光束二经过待检测样品照射到格兰泰勒棱镜上,并在经过格兰泰勒棱镜后照射到第二探测器上。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述单色偏振光源包括:超连续光谱光源,分光系统,光阑;
其中,所述分光系统满足如下条件:经所述分光系统出射的光束的消光比大于55dB。
3.如权利要求1所述的装置,还包括:恒温箱,测量时所述待检测样品位于所述恒温箱内。
4.如权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括:光陷阱,用于吸收经第一探测器和/或第二探测器反射的光束。
5.一种利用如权利要求1-4任一项所述的装置实现相位延迟测量的方法,其特征在于,包括:
以光束二为轴按照预设步长旋转所述待检测样品,并记录所述第一探测器探测到的电流I1和所述第二探测器探测到的电流I2;
根据所述电流I1和I2计算所述待检测样品的相位延迟值。
6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,当所述装置中包含恒温箱时,所述以光束二为轴按照预设步长旋转所述待检测样品之前,所述方法还包括:将所述恒温箱调节到所述预设的温度。
7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据所述电流I1和I2计算所述待检测样品的相位延迟值,具体为:利用如下公式计算待检测样品的相位延迟值σ:
其中I=I1/I2,Imax和Imax分别为I的最大取值和最小取值,θ为所述格兰泰勒棱镜起偏方向与所述单色偏振光的光路偏振面之间的夹角。
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