[发明专利]MWT与背钝化结合的晶硅太阳能电池及其制造方法无效
申请号: | 201310612664.9 | 申请日: | 2013-11-27 |
公开(公告)号: | CN103594529A | 公开(公告)日: | 2014-02-19 |
发明(设计)人: | 夏正月;高艳涛;陈同银;刘仁中;董经兵;张斌;邢国强 | 申请(专利权)人: | 奥特斯维能源(太仓)有限公司 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216;H01L31/0224;H01L31/18 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 刘燕娇 |
地址: | 215434 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | mwt 钝化 结合 太阳能电池 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种太阳能电池的结构及制造方法,具体涉及一种MWT与背钝化结合的晶硅太阳能电池及其制造方法。
背景技术
现代化太阳能电池工业化生产朝着高效低成本化方向发展,MWT(Metal wrap through)技术与背钝化(PERC)技术相结合作为高效低成本发展方向的代表,具有以下优势:
(1)极低的正面遮光:MWT技术通过在硅片上钻孔的方式将主栅线(busbar)引到电池的背面,从而降低了电池朝阳面的金属电极遮光;
(2)优异的背反射器:由于电池背面介质膜的存在使得内背反射从常规全铝背场65%增加到92-95%。一方面增加的长波光的吸收,另一方面尤其对未来薄片电池的趋势提供了技术上的保证;
(3)优越的背面钝化技术:由于背面介质膜的良好的钝化作用,可以将背面复合速率从全铝背的~1000cm/s降低到100-200cm/s;
(4)良好的协同作用,正面的MWT技术和背面钝化技术存在天然的结合关系,即过料孔与背表面交接的周围有薄膜作用,自然地隔离了灌孔浆料和硅的接触。
虽然当前国内外众多公司及研究单位都在研制单晶硅背面点接触太阳电池和MWT电池,但尚未出现将两者结合的低成本可量产结构与制备方法。
发明内容
发明目的:为了克服现有技术中存在的不足,本发明提供一种MWT与背钝化结合的晶硅太阳能电池及其制造方法。
技术方案:为解决上述技术问题,本发明提供的MWT与背钝化结合的晶硅太阳能电池,包括依次叠加的钝化膜、磷扩散层、P型硅基体、氧化铝薄膜、叠层保护膜和铝印刷层结构,上述结构上具有贯通孔,孔内穿装有灌孔银电极,孔壁与灌孔银电极之间覆盖有介质薄膜,所述灌孔银电极的顶部覆盖有正面银电极,所述铝印刷层上具有间隔的凸起,所述凸起穿过叠层保护膜和氧化铝薄膜并与P型硅基体形成局域铝背场接触。
优选的,所述磷扩散层为n型层,其方阻值为30-120ohm/sq。
优选的,所述钝化膜为SiNx或SiOx减反射钝化膜。
优选的,所述氧化铝薄膜厚度为1-100nm。
优选的,所述叠层保护膜为SiNx、SiCx或TiOx。
本发明同时提出上述MWT与背钝化结合的晶硅太阳能电池的制方法,包括以下步骤:
1)激光钻孔;
2)硅片去损伤并制绒,制绒面为激光末端面;
3)扩散;
4)去除背面磷硅玻璃,并实现背面抛光;
5)背面氧化铝薄膜和叠层保护膜生长;
6)正面减反射薄膜生长;
7)背面背面氧化铝薄膜和叠层保护膜开孔;
8)在背面印刷灌孔浆料;
9)在背面印刷背银;
10)印刷背铝,正银,烧结,测试。
优选的,所述步骤4)中采用在线滚轮式设备单面去除背面磷硅玻璃。
优选的,所述步骤1)中激光钻孔采用的激光为红光或绿光激光。
优选的,所述步骤7)中的开孔方法而为腐蚀性浆料开孔或者激光开孔。
优选的,所述步骤8)和步骤9)同时采用同种浆料印刷。
优选的,所述步骤10)中烧结采用激光烧结法形成背面点接触。
有益效果:本发明提供了一种可量产高效晶硅太阳能电池的结构和制造方法,可充分利用目前企业生产线已具备的常规电池生产设备,不增加电池每瓦制造成本。生长正面和背面薄膜的同时,激光钻孔中也沉积介质薄膜,不仅钝化了孔壁,而且有效地隔离了灌孔电极与硅的接触;钻孔步骤放在制绒步骤前,还有利于激光损伤的去除。
附图说明
图1 本发明的实施例的结构示意图;
图中各标号:减反膜1、磷扩散层2、P型硅基体3、氧化铝薄膜4、叠层保护膜5、铝印刷层6、灌孔银电极7、正面银电极8、局域铝背场接触9。
具体实施方式
实施例:本实施例的MWT与背钝化结合的晶硅太阳能电池的结构如图1所示,包括依次叠加的减反膜1、磷扩散层2、P型硅基体3、氧化铝薄膜4、叠层保护膜5、铝印刷层6结构,上述结构上具有贯通孔,孔内穿装有灌孔银电极7,孔壁与灌孔银电极7之间覆盖有介质薄膜,灌孔银电极7的顶部覆盖有正面银电极8,铝印刷层6上具有间隔的凸起,凸起穿过叠层保护膜5和氧化铝薄膜4并与P型硅基体3形成局域铝背场接触9。
以156mm P型单晶硅片为基体材料,制造方法的具体步骤如下:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于奥特斯维能源(太仓)有限公司,未经奥特斯维能源(太仓)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310612664.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的