[发明专利]紫外线灯的劣化检测装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种对紫外线灯的劣化进行检测的劣化检测装置及方法，该紫外线灯放射出对有机物分解或杀菌等有效的波长的紫外线。特别是，涉及一种对与紫外线灯内的有效水银量的减少相伴的紫外线放射量的下降进行检测，并基于该检测结果提示进行紫外线灯的更换的技术。

背景技术

当前，为了进行有机物分解或杀菌等而使用紫外线灯。紫外线灯放射出主要包含对有机物分解有效的185nm波长或对杀菌有效的254nm波长在内的紫外线，例如是低压水银灯（所谓UV-C紫外线灯）等。在紫外线灯中除了水银（更具体地说是水银粒或水银汞剂等）之外，还封入作为非活性气体的氩气等惰性气体。

在紫外线灯（下面简称为“灯”）中，如现有技术所示，伴随紫外线的放射，灯内被封入的水银被消耗。因此，灯内的有效水银量随着灯的点亮时间增加而逐渐减少。随着灯内的有效水银量减少，例如变化为氧化汞等的无效水银而附着在灯管内壁上，与其相对应，包含对有机物分解或杀菌等有效的波长185nm或254nm的紫外线的放射量（以下称为“发光强度”）逐渐下降。并且，如果包含对有机物分解或杀菌等有效的波长的紫外线放射量明显下降，则无法有效地进行有机物分解或杀菌等。因此，在灯内的有效水银枯竭之前，必须更换为新的灯本体。

因此，当前，使用能够测定紫外线放射量的紫外线传感器等紫外线区域用的光检测器，在检测到包含对有机物分解或杀菌等有效的波长的紫外线放射量下降至规定的规定值时，提示进行灯的更换。

例如在下述所示的专利文献1中示出有下述装置，其在能够测定200nm至400nm波长频带的紫外线放射量的碳化硅（SiC）光电二极管中，组合用于隔断超过300nm波长的紫外线的光学滤光器，以测定包含对杀菌有效的254nm波长在内的200nm至300nm波长频带的紫外线放射量。即，利用紫外区域用的光检测器，直接监视包含对杀菌有效的254nm波长在内的紫外线放射量本身，在该紫外线放射量低于规定的阈值的情况下，能够提示更换灯。

专利文献1：日本特开2004－317512号公报

但是，如上所述能够检测包含对杀菌有效的波长在内的紫外线放射量本身的紫外区域用的光检测器，与仅对可见光线进行受光而能够检测可见光线的发光强度的可见光区域用的通常设备相比，高价且成本高。另外，存在下述问题，即，在不使用用于选择杀菌性波长的复杂且高价的光学滤光器的情况下，在紫外线频谱低的一端的区域中，不具有足够的灵敏度。

发明内容

本发明就是鉴于上述问题而提出的，提供一种紫外线灯的劣化检测装置及方法，其不直接对包含有效用于有机物分解或杀菌等的波长在内的紫外线的放射量（发光强度）本身进行检测，也能够与伴随灯内有效水银量的减少出现的所述紫外线放射量的下降相对应，进行更换灯的提示。

本发明所涉及的紫外线灯的劣化检测装置的特征在于，具有检测可见光线的光强度的可见光区域用的光检测器，利用所述光检测器对从封入水银及惰性气体的紫外线灯与紫外线一起放射的可见光线进行受光，基于由该光检测器受光的可见光线的光强度，检测所述紫外线灯的劣化。优选还具有控制部，其基于所述光检测器的输出判定是否需要更换所述紫外线灯，在应更换时对该更换信息进行通知。

根据本发明，使用可见光区域用的光检测器，基于从紫外线灯放射的可见光线的光强度，检测所述紫外线灯的劣化。可见光线与从封入水银及惰性气体的紫外线灯放射的紫外线一起进行放射，而可视区域用的光检测器仅对可见光线进行检测，仅对从紫外线灯放射的可见光线进行受光，并检测该受光的可见光线的发光强度。

如果在灯内封入的有效水银被极度地消耗，则在由水银产生的紫外线的发光中不会再消耗大量的能量，紫外线放射量下降。与其相伴，灯内所封入的惰性气体具有的发光能量用于可见光线的发光，因此被更多地使用，由惰性气体产生的可见光线的发光强度增加（由惰性气体产生可见光线所消耗的能量值增加）。