[发明专利]紫外线灯的劣化检测装置及方法有效
申请号: | 201310594560.X | 申请日: | 2013-11-21 |
公开(公告)号: | CN103837231B | 公开(公告)日: | 2017-05-17 |
发明(设计)人: | 小泉佳代;山越裕司 | 申请(专利权)人: | 株式会社日本光电科技 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 | 代理人: | 何立波,张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 紫外线 检测 装置 方法 | ||
1.一种紫外线灯的劣化检测装置,其特征在于,
具有可见光区域用的光检测器,其检测可见光线的光强度,
利用所述光检测器,对从封入水银及惰性气体而成的紫外线灯与紫外线一起放射的可见光线进行受光,基于由该光检测器受光的可见光线的光强度超过规定的阈值,检测所述紫外线灯的劣化。
2.根据权利要求1所述的紫外线灯的劣化检测装置,其中,
还具有控制部,其基于所述光检测器的输出,判定是否需要更换所述紫外线灯,在应更换时对该更换信息进行通知。
3.根据权利要求1或2所述的紫外线灯的劣化检测装置,其特征在于,
还具有限制单元,其从由所述紫外线灯放射的可见光线中,提取特定波长频带的可见光线,该限制单元按照与所述紫外线灯中所封入的惰性气体的种类相对应而预先确定的波长频带,提取该可见光线。
4.根据权利要求3所述的紫外线灯的劣化检测装置,其特征在于,
具有收容所述光检测器和所述限制单元的收容容器,该收容容器至少可更换地收容所述限制单元。
5.根据权利要求1或2所述的紫外线灯的劣化检测装置,其中,
还具有遮断单元,其遮断从所述紫外线灯放射的紫外线及可见光线中的所述紫外线。
6.一种紫外线灯的劣化检测方法,其特征在于,
由下述步骤构成:使用仅对从封入水银及惰性气体的紫外线灯放射的紫外线及可见光线中的可见光线进行受光的光检测器,对该受光的可见光线的发光强度进行检测,
基于检测出的可见光线的光强度超过规定的阈值,检测所述紫外线灯的劣化。
7.根据权利要求6的紫外线灯的劣化检测方法,其中,
还具有下述步骤:基于所述检测出的可见光线的发光强度,判定是否需要更换所述紫外线灯,在应更换时对该更换信息进行通知。
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