[发明专利]一种检测设备及方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种检测设备及方法。

背景技术

在液晶显示器件的加工过程中，由于Pad区域空间有限，目前小尺寸产品的接线间隔余量（Pad Pitch Margin）行业设计标准在10～20um之间，而全接触（Full Contact）设计的垫片间距边缘的尺寸需要在20um以上，可见10～20um垫片间距边缘无法满足全接触设计的要求。目前行业内多普遍要求达到FHD（Full High Definition，全高清）分辨率标准即1920*1080，以10.1英寸与32英寸为例，两者Pad区大小差距很大，但所需要布线的数量一致，故两者相应的线粗细等存在较大差距。全接触主要使用Blade与Pad区走线接触达到信号传递的目的，其中Blade是一种高精度的刀片，Pad是显示屏信号接入端子，将信号发生器所产生的信号借由一系列的结构，最终通过刀片与信号接入端子的接触，导入显示屏，完成信号传递。全接触的对位方式为光学对位，该对位方式本身存在一定量的精度误差，再加之10.1英寸的走线较细，故容易出现Blade与线路缺失的状态，无法正确传递信号，而32英寸则走线较粗，可以包含此误差，所以目前行业内对小尺寸产品均采用shorting bar模式进行检测，因此目前行业内普遍使用短接端子（Shorting Bar）设计进行成盒检测。但是对于短接端子设计方法中，不可避免地存在线阻，在成盒检测阶段无法避免由于线阻带来的信号衰减，给产品添加信号后出现灰度差异，造成无法正确检出Mura类不良（即面板亮度不均匀）。

另一个方面，对于小尺寸产品而言，由于近几年行业内高PPI（Pixels Per Inch，每英寸的像素数目）的发展趋势，像素（Pixel）越做越小。按照目前行业内的通常做法，在成盒阶段对于微粒等异物类不良无法有效将其检出，而是需要在背光模组进行偏光片贴附后才能将其检出，这样对于存在异物类不良的面板就造成偏光片资源浪费，加大了产业成本。

综上所述，对于小尺寸的液晶屏产品在对盒检测阶段无法将Mura类不良和异物类不良及时检测出来，并且检测过程中浪费大量偏光片。

发明内容

（一）要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是如何在不浪费偏光片的情况下，及时将液晶屏产品表面存在的Mura类不良和异物类不良检测处来。

（二）技术方案

为解决上述技术问题，本发明提供了一种检测设备，包括：下固定单元、上固定单元和检测机台，所述下固定单元用于固定下偏光片，所述上固定单元用于固定上偏光片，所述下固定单元和所述上固定单元安装在所述检测机台上，待检测面板置于上偏光片和下偏光片之间，压合之后所述上偏光片和/或所述下偏光片与所述待检测面板之间全接触。

进一步地，所述下固定单元包括固定板和第一压合板，所述固定板上设置有第一固定槽，用于安装所述下偏光片，且所述第一压合板上设置有观察窗，所述观察窗的位置与所述第一固定槽的位置相对应。

进一步地，所述固定板和所述第一压合板之间通过铰链方式连接。

进一步地，所述上固定单元包括第二压合板，所述第二压合板上设置有第二固定槽，用于安装所述上偏光片，且所述第二固定槽的位置与所述观察窗和/或所述第一固定槽的位置相对应。

进一步地，所述上固定单元还包括短接端子，将所述待检测面板置于所述第一压合板和所述第二压合板之间后，所述短接端子与所述待检测面板实现全接触。

进一步地，所述上偏光片和所述下偏光片的大小不小于所述观察窗的大小，且所述观察窗的大小不小于所述待检测面板的大小。

进一步地，还包括信号发生器和信号控制器，所述信号发生器用于产生并输入信号，所述信号控制器用于控制所述信号发生器产生不同的信号。

进一步地，还包括背光源和背光源控制器，所述背光源包括第一背光源和第二背光源，所述第一背光源用于无信号输入时使用的背光源，所述第二背光源用于有信号输入时使用的背光源，所述背光源控制器根据是否有信号输入控制所述第一背光源和所述第二背光源之间的切换。

为解决上述技术问题，本发明还提供了一种基于上述检测设备的检测方法，包括：

将待检测面板放置在上固定单元和下固定单元之间；

通过压合实现上偏光片和下偏光片与所述带检测面板之间全接触；

通入不同的信号对所述待检测面板进行检测，根据检测结果检测出成盒不良的待检测基板。

进一步地，所述将待检测面板放置在上固定单元和下固定单元之间具体包括：