[发明专利]一种检测设备及方法有效

专利信息
申请号: 201310559747.6 申请日: 2013-11-12
公开(公告)号: CN103558699A 公开(公告)日: 2014-02-05
发明(设计)人: 凌杰;陈霖东;金用燮;刘晓涛 申请(专利权)人: 合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 李迪
地址: 230012 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 设备 方法
【权利要求书】:

1.一种检测设备,其特征在于,包括:下固定单元、上固定单元和检测机台,所述下固定单元用于固定下偏光片,所述上固定单元用于固定上偏光片,所述下固定单元和所述上固定单元安装在所述检测机台上,待检测面板置于上偏光片和下偏光片之间,压合之后所述上偏光片和/或所述下偏光片与所述待检测面板之间全接触。

2.如权利要求1所述的检测设备,其特征在于,所述下固定单元包括固定板和第一压合板,所述固定板上设置有第一固定槽,用于安装所述下偏光片,且所述第一压合板上设置有观察窗,所述观察窗的位置与所述第一固定槽的位置相对应。

3.如权利要求2所述的检测设备,其特征在于,所述固定板和所述第一压合板之间通过铰链方式连接。

4.如权利要求2所述的检测设备,其特征在于,所述上固定单元包括第二压合板,所述第二压合板上设置有第二固定槽,用于安装所述上偏光片,且所述第二固定槽的位置与所述观察窗和/或所述第一固定槽的位置相对应。

5.如权利要求4所述的检测设备,其特征在于,所述上固定单元还包括短接端子,将所述待检测面板置于所述第一压合板和所述第二压合板之间后,所述短接端子与所述待检测面板实现全接触。

6.如权利要求2所述的检测设备,其特征在于,所述上偏光片和所述下偏光片的大小不小于所述观察窗的大小,且所述观察窗的大小不小于所述待检测面板的大小。

7.如权利要求1-6中任一项所述的检测设备,其特征在于,还包括信号发生器和信号控制器,所述信号发生器用于产生并输入信号,所述信号控制器用于控制所述信号发生器产生不同的信号。

8.如权利要求7所述的检测设备,其特征在于,还包括背光源和背光源控制器,所述背光源包括第一背光源和第二背光源,所述第一背光源用于无信号输入时使用的背光源,所述第二背光源用于有信号输入时使用的背光源,所述背光源控制器根据是否有信号输入控制所述第一背光源和所述第二背光源之间的切换。

9.一种基于权利要求1-8所述的检测设备的检测方法,其特征在于,包括:

将待检测面板放置在上固定单元和下固定单元之间;

通过压合实现上偏光片和下偏光片与所述带检测面板之间全接触;

通入不同的信号对所述待检测面板进行检测,根据检测结果检测出成盒不良的待检测基板。

10.如权利要求9所述的检测方法,其特征在于,所述将待检测面板放置在上固定单元和下固定单元之间具体包括:

将下偏光片安装在下固定单元中固定板的第一固定槽中,第一压合板折合到所述固定板上进行压合;

将待检测面板放置在所述下偏光片上;

将上偏光片安装在上固定单元中第二压合板的第二固定槽中,并进行压合。

11.如权利要求10所述的检测方法,其特征在于,所述第一固定槽的位置对应于第一压合板上观察窗的位置,所述第一压合板折合到所述固定板上之后,通过所述观察窗观察到所述下偏光片。

12.如权利要求11所述的检测方法,其特征在于,所述第二固定槽的位置与所述得到观察窗和所述第一固定槽的位置也相对应。

13.如权利要求9所述的检测方法,其特征在于,所述上固定单元还包括短接端子,将所述待检测面板置于所述第一压合板和所述第二压合板之间后,所述短接端子与所述待检测面板实现全接触。

14.如权利要求9所述的检测方法,其特征在于,所述上偏光片和所述下偏光片的大小不小于所述观察窗的大小,且所述观察窗的大小不小于所述待检测面板的大小。

15.如权利要求13所述的检测方法,其特征在于,在所述信号控制器的控制下,所述信号发生器产生不同信号,并通过通入不同的信号对待检测面板进行检测。

16.如权利要求11所述的检测方法,其特征在于,在不输入信号的情况下,打开背光源,通过所述观察窗检测出待检测面板表面的异物类不良;输入信号后,打开背光源,通过所述观察窗检测出待检测面板亮度不均匀的不良。

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