[发明专利]WAT测试曲线数据的保存方法和装置在审

专利信息
申请号: 201310554560.7 申请日: 2013-11-08
公开(公告)号: CN103645858A 公开(公告)日: 2014-03-19
发明(设计)人: 周波;莫保章;席与凌 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 竺路玲
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: wat 测试 曲线 数据 保存 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种WAT测试曲线数据的保存方法,应用于WAT测试机台中,其特征在于,包括如下步骤:

S1,在WAT测试过程中,将得到的测试数据临时保存至所述WAT测试机台本地;

S2,在WAT测试完成后,判断临时保存的测试数据中是否存在曲线数据;

S3,在判定临时保存的测试数据中存在曲线数据时,获取当前时间,并根据所述当前时间在所述WAT测试机台本地创建时间标记数据块,将临时保存的测试数据中的曲线数据复制到所述时间标记数据块中。

2.根据权利要求1所述的WAT测试曲线数据的保存方法,其特征在于,还包括:

S3’,在判定临时保存的测试数据中不存在曲线数据时,清空临时保存的测试数据。

3.根据权利要求1所述的WAT测试曲线数据的保存方法,其特征在于,还包括:

S4,清空临时保存的测试数据。

4.根据权利要求1所述的WAT测试曲线数据的保存方法,其特征在于,在所述步骤S1中,在WAT测试前设置WAT测试程式库,将曲线测试程式保存至所述WAT测试机台本地。

5.根据权利要求4所述的WAT测试曲线数据的保存方法,其特征在于,在所述步骤S1中,在WAT测试开始后,调用所述WAT测试机台本地的曲线测试程式。

6.一种WAT测试曲线数据的保存装置,应用于WAT测试机台中,其特征在于,包括:

主处理单元,用于在进行WAT测试过程中,将得到的测试数据临时保存至所述WAT测试机台本地的临时存储单元中;

临时存储单元,用于临时保存所述测试数据;

判断单元,用于在WAT测试完成后,判断所述临时存储单元中临时保存的测试数据中是否存在曲线数据;

数据后处理单元,用于在判定所述临时存储单元中临时保存的测试数据中存在曲线数据时,获取当前时间,并根据所述当前时间在所述WAT测试机台本地的主存储单元中创建时间标记数据块,将所述临时存储单元中临时保存的测试数据中的曲线数据复制到所述时间标记数据块中;以及,

主存储单元,用于保存复制到所述时间标记数据块中的曲线数据。

7.根据权利要求6所述的WAT测试曲线数据的保存装置,其特征在于,还包括:

清除单元,用于在判定临时保存的测试数据中不存在曲线数据时,清空临时保存的测试数据。

8.根据权利要求6所述的WAT测试曲线数据的保存装置,其特征在于,还包括:

清除单元,用于在所述临时存储单元中临时保存的测试数据中的曲线数据复制到所述时间标记数据块中后,清空临时保存的测试数据。

9.根据权利要求6所述的WAT测试曲线数据的保存方法,其特征在于,还包括:

设置单元,用于在WAT测试前,设置WAT测试程式库,将曲线测试程式保存至所述WAT测试机台本地的临时存储单元中。

10.根据权利要求9所述的WAT测试曲线数据的保存方法,其特征在于,还包括:

调用单元,用于在WAT测试开始后,调用所述WAT测试机台本地的曲线测试程式。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华力微电子有限公司,未经上海华力微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310554560.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top