[发明专利]阴极荧光与电子束诱导感生电流原位采集装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及半导体器件测试领域，尤其涉及一种阴极荧光与电子束诱导感生电流原位采集装置及方法。

背景技术

阴极荧光光谱仪和电子束诱导感生电流装置是安装在扫描电子显微镜上的两个附件。阴极荧光光谱仪由于采用了束斑尺寸仅为几个纳米的电子束激发源，因此可以对材料和器件中的纳米结构进行光谱采集和成像，对于揭示微纳尺度的局域光学性质起到了巨大的推动作用。目前的阴极荧光光谱仪还是依靠从国外进口，国内没有厂家生产。为了进一步拓展阴极荧光光谱仪的空间分辨能力和光谱分辨率，大多数的阴极荧光光谱仪均安装在场发射电镜上，因为束斑尺寸小，可达1纳米，同时发展了低温冷台，可以在接近液氦温度（6k）下开展光谱采集和成像，对于深入研究纳米材料和器件中的激子发光、缺陷发光起到了重要的推动作用。电子束诱导感生电流装置（EBIC）目前也只有国外厂家提供商业化的产品，随着LED，solar cells等半导体器件的发展， EBIC装置在PN结结区位置、宽度测定、缺陷表征和失效分析方面发挥了重要的作用。

目前的EBIC测试样品台采用螺丝固定探针并需要在外界环境中手动调节螺丝来控制探针移动，从而使得探针与样品电极接触。这存在两个缺点：一、固定探针的螺丝高于样品台表面几个mm，导致探针高出样品表面几个mm，一般探针高出样品台表面3mm，而由于CL探头的焦点位于CL探头下方1mm左右处，所以CL探头进行光信号采集时，最好距离样品表面1mm左右，使得样品处于CL探头的焦点处，这样能够提高荧光收集效率。但是，由于探针高出样品表面几个mm，这就导致CL探头就不能移动至样品正上方，导致不能进行CL/EBIC的原位采集。二、由于需要在外界环境中手动调节螺丝来控制探针的移动，因此，在电镜一次抽真空和放空循环中只能进行一个样品的检测，若需要进行下一个样品的检测，则需要将电镜放空，手动调节探针的位置，这显然不能满足研发机构进行大量失效分析的需求且会造成资源的浪费。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，提供一种阴极荧光与电子束诱导感生电流原位采集装置及方法，该装置能够实现阴极荧光信号与电子束诱导感生电流信号的原位采集。

为了解决上述问题，本发明提供了一种阴极荧光与电子束诱导感生电流原位采集装置，包括测试台、探针、探针固定装置及物镜，所述测试台用于放置测试样品，所述探针固定在所述探针固定装置上，用于与测试样品的电极接触，进行电子束诱导感生电流信号的采集，所述物镜用于聚焦电子束，所述装置还包括阴极荧光探头，所述阴极荧光探头设置于探针与物镜之间，用于进行阴极荧光信号的采集，所述测试样品位于阴极荧光探头的焦点。

进一步，所述阴极荧光探头焦点到阴极荧光探头的距离为1~1.5mm。

进一步，所述探针固定装置包括X方向平移器、Y方向平移器及Z方向平移器，所述X方向平移器、Y方向平移器及Z方向平移器与外部控制器相连，用于使所述探针在X、Y、Z方向移动并与所述测试样品的电极接触。优点在于，在真空环境中就可以控制探针的移动，不必放空后再进行探针的移动。

进一步，所述X方向平移器、Y方向平移器及Z方向平移器均为压电平移器。

进一步，所述测试台上设置有至少两个放置测试样品的位置，以完成多个测试样品的测试。优点在于，可以在一次抽真空和放空的过程中进行多个测试样品的测试，避免了资源的浪费。

进一步，在所述测试台上设置一加热模块，所述测试样品设置于所述加热模块上，所述加热模块用于加热所述待测试样品并控制加热温度。优点在于，在测试样品进行高温老化实验中，可以进行阴极荧光/电子束诱导感生电流的原位表征。

进一步，在所述测试台与所述加热模块之间设置有一隔热模块，所述隔热模块用于防止加热模块产生的热量传递到测试台上。优点在于，防止加热模块产生的高温对测试装置产生影响。

一种阴极荧光与电子束诱导感生电流原位采集的方法，包括如下步骤：

（1）移动探针，使探针与测试样品的电极接触；

（2）移动阴极荧光探头，使所述阴极荧光探头位于探针与物镜之间，所述测试样品位于阴极荧光探头的焦点；

（3）提供电子束，使所述电子束照射测试样品表面；所述探针进行电子束诱导感生电流信号的采集，所述阴极荧光探头进行阴极荧光信号的采集。

进一步，所述测试台上放置有至少两个测试样品，所述方法进一步包括如下步骤：步骤（3）测试结束后，将阴极荧光探头从探针与物镜之间移开，移动探针，重复步骤（1）~步骤（3）。