[发明专利]功率电子电路、电子机械和检测功率电子电路功能的方法

权利要求书

1.一种功率电子电路，具有：

包括至少一个功率半导体开关(23)的功率部件(22)，其根据所述至少一个功率半导体开关(23)的交替地接通和断开，由供电电压产生用于电负载(9)的时钟电压；和

控制电子装置(25)，用于控制所述功率半导体开关(23)的交替地接通和断开，该控制电子装置具有：光电耦合器(26)，该光电耦合器(26)包括构成为光发射器(29)的输入级和构成为光接收器(30)的输出级；与所述光发射器(29)并联连接的第一半导体开关(27)；和与由所述第一半导体开关(27)和所述光发射器(29)组成的并联电路串联连接的第二半导体开关(28)，其中，将所述第一半导体开关(27)设计为，根据脉冲模式(38)交替地打开和关闭，从而根据该脉冲模式使电流流过所述光发射器(29)，由此使所述光发射器(29)相应于所述脉冲模式(38)发射光，所发射的光由所述光接收器(30)接收，以产生相应的用于所述至少一个功率半导体开关(23)的控制信号(39)，并且

其中，在正常运行期间根据所述脉冲模式(38)交替地打开和关闭所述第一半导体开关(27)，并使所述第二半导体开关(28)关闭，并在测试运行期间根据所述脉冲模式(38)交替地打开和关闭所述第一半导体开关(27)，并使所述第二半导体开关(28)在所述至少一个功率半导体开关(23)打开的时间点打开，并在所述功率半导体开关(23)再次关闭之前再次关闭。

2.如权利要求1所述的功率电子电路，其中，将所述功率部件设计为逆变器(22)，和/或所述脉冲模式(38)基于脉冲宽度调制，和/或将所述第一半导体开关(27)设计为第一晶体管(33)和/或将所述第二半导体开关(28)设计为第二晶体管(34)。

3.如权利要求2所述的功率电子电路，其中，将所述功率部件设计为用于产生三相交流电压的逆变器(22)。

4.如权利要求1所述的功率电子电路，其中，在测试运行期间对施加在所述第二半导体开关(28)上的电信号进行分析，以检测所述第二半导体开关(28)是否可靠地打开。

5.一种电子机械，具有如权利要求1至4中任一项所述的功率电子电路，由该功率电子电路提供时钟电压的电负载(9)和控制装置(10)，该控制装置通过控制器根据脉冲模式(38)打开和关闭第一半导体开关(27)。

6.如权利要求5所述的电子机械，所述控制装置(10)在正常运行期间，根据所述脉冲模式(38)交替地打开和关闭所述第一半导体开关(27)，并使第二半导体开关(28)关闭；在测试运行期间，根据所述脉冲模式(38)交替地打开和关闭所述第一半导体开关(27)，并使所述第二半导体开关(28)在至少一个功率半导体开关(23)打开的时间点打开，并在该功率半导体开关(23)再次关闭之前再次关闭。

7.如权利要求6所述的电子机械，所述控制装置(10)在测试运行期间对施加在所述第二半导体开关(28)上的电信号进行分析，以检测所述第二半导体开关(28)是否可靠地打开。

8.如权利要求5至7中任一项所述的电子机械，所述控制装置(10)在所述功率电子电路初始化期间使所述第二半导体开关(28)打开。

9.一种用于测试如权利要求1或2所述的功率电子电路的方法，其具有以下方法步骤：

根据脉冲模式(38)交替地打开和关闭第一半导体开关(27)，以及

在至少一个功率半导体开关(23)打开的时间点打开第二半导体开关(28)，并在该功率半导体开关(23)再次关闭之前再次关闭所述第二半导体开关(28)。

10.如权利要求9所述的方法，具有以下步骤：对在所述第二半导体开关(28)打开的时间点上施加在所述第二半导体开关(28)上的电信号进行分析，以检测所述第二半导体开关(28)是否可靠地打开。