[发明专利]触点式开关的寿命检测系统及寿命检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及触点式开关技术领域，具体而言，涉及一种触点式开关的寿命检测系统及寿命检测方法。

背景技术

触点式开关在实际使用中，由于触点、弹片的损耗，在开关打到动作行程时，开关可能会处于断开状态，此种状态会导致开关在使用过程中出现虚动现象，而现有开关的寿命检测系统只能监测到开关实际通断的次数，而无法监测到开关虚动的问题，进而无法准确地反应成触点式开关的使用寿命。

发明内容

本发明旨在提供一种触点式开关的寿命检测系统及寿命检测方法，能够检测触点式开关是否存在虚动现象。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种触点式开关的寿命检测系统，该系统包括被测开关、驱动装置、第一计数装置以及第二计数装置，其中，驱动装置驱动被测开关的打开和闭合；第一计数装置与驱动装置电连接以记录驱动装置的驱动次数；第二计数装置与被测开关电连接以记录被测开关的导通次数。

进一步地，驱动装置包括：驱动器，驱动被测开关的打开和闭合；控制器，与驱动器电连接，并控制驱动器运动。

进一步地，第一计数装置与控制器电连接以记录驱动器的驱动次数。

进一步地，控制器为时间继电器。

进一步地，驱动器为气枪。

进一步地，第一计数装置和第二计数装置均为计数器。

进一步地，被测开关包括多个档位。

进一步地，触点式开关的寿命检测系统还包括处理器，第一计数装置和第二计数装置均与处理器电连接。

根据本发明的另一方面，提供了一种触点式开关的寿命检测方法，该方法包括：步骤S1：利用驱动装置驱动被测开关，并利用第一计数装置记录下驱动装置的驱动次数；步骤S2：利用第二计数装置记录下被测开关的导通次数；步骤S3：比较第一计数装置和第二计数装置记录的数值的大小，判断被测开关是否存在虚动现象。

进一步地，在步骤S1中，驱动装置包括：驱动器，驱动被测开关的打开和闭合；控制器，与驱动器电连接，并控制驱动器运动。

进一步地，在步骤S1中，控制器为时间继电器。

进一步地，在步骤S1中，驱动器为气枪。

进一步地，在步骤S2中，第一计数装置与控制器电连接以记录驱动器的驱动次数。

进一步地，第一计数装置和第二计数装置均为计数器。

进一步地，在步骤S3中，如果第一计数装置记录的数值等于第二计数装置记录的数值，则被测开关不存在虚动现象；如果第一计数装置记录的数值大于第二计数装置记录的数值，则被测开关存在虚动现象。

进一步地，被测开关包括多个档位。

进一步地，在步骤S3中，利用处理器对第一计数装置和第二计数装置记录的数值进行比较。

应用本发明的技术方案，触点式开关的寿命检测系统包括被测开关、驱动装置、第一计数装置以及第二计数装置，其中，驱动装置驱动被测开关的打开和闭合；第一计数装置与驱动装置电连接以记录驱动装置的驱动次数；第二计数装置与被测开关电连接以记录被测开关的导通次数。在本发明中，设置有用于记录驱动装置的驱动次数的第一计数装置和用于记录被测开关的导通次数第二计数装置，根据第一计数装置和第二计数装置记录的值的大小关系，可以检测被测开关是否存在虚动现象，进而判断开关的使用寿命。

附图说明

构成本发明的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1示出了本发明的触点式开关的寿命检测系统连接关系图；以及

图2示出了本发明的触点式开关的寿命检测方法的流程图。

附图标记说明：

10、被测开关；20、驱动装置；21、驱动器；22、控制器；30、第一计数装置；40、第二计数装置；50、处理器。

具体实施方式

下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。