[发明专利]触点式开关的寿命检测系统及寿命检测方法

权利要求书

1.一种触点式开关的寿命检测系统，其特征在于，包括：

被测开关（10）；

驱动装置（20），所述驱动装置（20）驱动所述被测开关（10）的打开和闭合；

第一计数装置（30），与所述驱动装置（20）电连接以记录所述驱动装置（20）的驱动次数；

第二计数装置（40），与所述被测开关（10）电连接以记录所述被测开关（10）的导通次数。

2.根据权利要求1所述的触点式开关的寿命检测系统，其特征在于，所述驱动装置（20）包括：

驱动器（21），驱动所述被测开关（10）的打开和闭合；

控制器（22），与所述驱动器（21）电连接，并控制所述驱动器（21）运动。

3.根据权利要求2所述的触点式开关的寿命检测系统，其特征在于，所述第一计数装置（30）与所述控制器（22）电连接以记录所述驱动器（21）的驱动次数。

4.根据权利要求2所述的触点式开关的寿命检测系统，其特征在于，所述控制器（22）为时间继电器。

5.根据权利要求2所述的触点式开关的寿命检测系统，其特征在于，所述驱动器（21）为气枪。

6.根据权利要求1所述的触点式开关的寿命检测系统，其特征在于，所述第一计数装置（30）和所述第二计数装置（40）均为计数器。

7.根据权利要求1所述的触点式开关的寿命检测系统，其特征在于，所述被测开关（10）包括多个档位。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的触点式开关的寿命检测系统，其特征在于，还包括处理器（50），所述第一计数装置（30）和所述第二计数装置（40）均与所述处理器（50）电连接。

9.一种触点式开关的寿命检测方法，其特征在于，包括：

步骤S1：利用驱动装置（20）驱动被测开关（10），并利用第一计数装置（30）记录下所述驱动装置（20）的驱动次数；

步骤S2：利用第二计数装置（40）记录下所述被测开关（10）的导通次数；

步骤S3：比较所述第一计数装置（30）和所述第二计数装置（40）记录的数值的大小，判断所述被测开关（10）是否存在虚动现象。

10.根据权利要求9所述的触点式开关的寿命检测方法，其特征在于，在所述步骤S1中，所述驱动装置（20）包括：

驱动器（21），驱动所述被测开关（10）的打开和闭合；

控制器（22），与所述驱动器（21）电连接，并控制所述驱动器（21）运动。

11.根据权利要求10所述的触点式开关的寿命检测方法，其特征在于，在所述步骤S1中，所述控制器（22）为时间继电器。

12.根据权利要求10所述的触点式开关的寿命检测方法，其特征在于，在所述步骤S1中，所述驱动器（21）为气枪。

13.根据权利要求10所述的触点式开关的寿命检测方法，其特征在于，在所述步骤S2中，所述第一计数装置（30）与所述控制器（22）电连接以记录所述驱动器（21）的驱动次数。

14.根据权利要求9所述的触点式开关的寿命检测方法，其特征在于，所述第一计数装置（30）和所述第二计数装置（40）均为计数器。

15.根据权利要求9所述的触点式开关的寿命检测方法，其特征在于，在所述步骤S3中，如果所述第一计数装置（30）记录的数值等于所述第二计数装置（40）记录的数值，则所述被测开关（10）不存在虚动现象；

如果所述第一计数装置（30）记录的数值大于所述第二计数装置（40）记录的数值，则所述被测开关（10）存在虚动现象。

16.根据权利要求9所述的触点式开关的寿命检测方法，其特征在于，所述被测开关（10）包括多个档位。

17.根据权利要求9至16中任一项所述的触点式开关的寿命检测方法，其特征在于，在所述步骤S3中，利用处理器（50）对所述第一计数装置（30）和所述第二计数装置（40）记录的数值进行比较。