[发明专利]测试磁性团簇微观促发作用的方法

说明书

技术领域

本发明涉及测试磁性团簇促发作用的方法。

背景技术

具有庞磁阻性质的复合锰氧化物在低温下显示了磁场促发的由电荷有序反铁磁向铁磁的转变，类锰氧化物中存在典型的相分离特征。相分离是纳米、微米尺寸上的概念，低温下的测量十分困难，研究多在液氮温度下进行，加磁场的测量仪器更是极少。相分离体系中台阶状变磁相变现象更是凝聚态物理与材料物理当前研究的前言与热点，该类现象的研究对研究磁控量子开关类现象的潜在应用具有重要指导意义。

综上所述，现有测试磁性团簇促发作用的方法，需要在能加磁场的低温磁力显微镜（MFM）下进行，操作复杂，而现有低温磁力显微镜极少，能加磁场的低温磁力显微镜更少，目前国内仅一台。

发明内容

本发明要解决现有测试磁性团簇微观促发作用的方法存在操作复杂，测量仪器数量极少且价格昂贵，而提供测试磁性团簇微观促发作用的方法。

测试磁性团簇微观促发作用的方法，是按照以下步骤进行的：

一、材料准备：准备极低温下磁场促发的台阶状变磁相变临界场的材料A及极低温下磁场促发的台阶状变磁相变临界场的材料B；

所述的材料A与材料B的临界场不同；所述的材料A临界场为0.5T～5T；所述的材料B临界场为0.5T～5T；

二、研磨：将材料A放置在玛瑙研钵中进行研磨，得到研磨后的材料A；将材料B放置在玛瑙研钵中进行研磨，得到研磨后的材料B；

所述研磨后的材料A的粒径为50nm～0.01mm；所述研磨后的材料B的粒径为50nm～0.01mm；

三、控制材料距离：

将研磨后的材料A与研磨后的材料B混合均匀并压片，得到控制距离后的材料C；

所述研磨后的材料A与研磨后的材料B的控制距离为0mm；

四、固定：使用聚四氟乙烯带将控制距离后的材料C包裹2层～4层后固定到样品管中，得到固定后的材料D；

五、物理性质测量系统测试：在测试温度为2K～5K下，将研磨后的材料A、研磨后的材料B及固定后的材料D放置于物理性质测量系统中分别测试磁化曲线，即测试出磁性团簇微观促发作用。

测试磁性团簇微观促发作用的方法，是按照以下步骤进行的：

一、材料准备：准备极低温下磁场促发的台阶状变磁相变临界场的材料A及极低温下磁场促发的台阶状变磁相变临界场的材料B；

所述的材料A与材料B的临界场不同；所述的材料A临界场为0.5T～5T；所述的材料B临界场为0.5T～5T；

二、打磨：将材料A放置在砂纸上进行打磨，得到打磨后的材料A；将材料B放置在砂纸上进行打磨，得到打磨后的材料B；

所述打磨后的材料A的粒径为0.01mm～5.5mm；所述打磨后的材料B的粒径为0.01mm～5.5mm；

三、控制材料距离：

使用游标卡尺控制打磨后的材料A与打磨后的材料B的距离并固定到物理性质测量系统的交流磁化率测量选件的标配样品管上，得到控制距离后的材料C；

所述的标配样品管面积为3mm×8mm；所述打磨后的材料A与打磨后的材料B的控制距离为L，且0mm＜L≤5mm；

四、固定：使用聚四氟乙烯带将控制距离后的材料C包裹2层～4层后固定到样品管中，并使两样品中点连线与样品管轴线重合，得到固定后的材料D；

五、物理性质测量系统测试：在测试温度为2K～5K下，将打磨后的材料A、打磨后的材料B及固定后的材料D放置于物理性质测量系统中分别测试磁化曲线，即测试出磁性团簇微观促发作用。

本发明的有益效果是：1、用简单的宏观手段即能测试磁性团簇微观促发作用，可以直观测试；2、与微观测试方法相比具有简单易行的优势；3、不需要低温磁力显微镜（MFM）。

本发明用于测试磁性团簇促发作用的方法。

附图说明

图1是实施例在温度为2.0K下，极低温下磁场促发的台阶状变磁相变临界场材料的磁化曲线。

具体实施方式

具体实施方式一：本实施方式所述的测试磁性团簇微观促发作用的方法，具体是按照以下步骤进行的：

一、材料准备：准备极低温下磁场促发的台阶状变磁相变临界场的材料A及极低温下磁场促发的台阶状变磁相变临界场的材料B；

所述的材料A与材料B的临界场不同；所述的材料A临界场为0.5T～5T；所述的材料B临界场为0.5T～5T；