[发明专利]检波器频率响应测量系统有效

专利信息
申请号: 201310484580.1 申请日: 2013-10-16
公开(公告)号: CN103512607A 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 祝宁华;邓晔;刘建国;李明;陈伟 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 曹玲柱
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 检波器 频率响应 测量 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及光电仪器测量技术领域,尤其涉及一种检波器频率响应测量系统。

背景技术

检波器是检出波动信号中某种有用信息的装置,用于识别波、振荡或信号存在或变化的器件。检波器广泛用于设计和生产测试,也可作为测试系统信号接口单元的内部元件,在许多测试和测量应用中都可以用到,例如电源监视、视频检波、扫描传输和反射测量等。因此,通过测量检波器相关参数,对于提高系统性能、优化系统结构大有裨益。

频率响应是检波器非常重要的参数指标,表征检波器处理不同频率信号的能力。目前,测量检波器频率响应的方法主要是网络分析仪扫频法,该方法原理简单、快速直观,但是整台测试设备价格不菲,而且测试带宽越高,其价格越贵。我国还不能自行生产测试带宽较高的矢量网络分析仪(50GHz),由于其可用于检验、测试的器件可用于军事、卫星成像等领域,因此此类设备普遍被西方发达国家禁运。

发明内容

(一)要解决的技术问题

鉴于上述技术问题,本发明提供了一种检波器频率响应测量系统,以在不使用网络分析仪的情况下表征检波器频率响应特性。

(二)技术方案

根据本发明的一个方面,提供了一种检波器频率响应测量系统。该检波器频率响应测量系统包括:波形发生器,用于产生频率分别为f和2f的两路周期性方波信号,该周期性方波信号的低电平为VL,高电平为VH;可调谐DBR激光器,其相区电流输入端与所述波形发生器的输出端电性连接,用于利用所述频率为f的周期性方波信号改变自身相区电流实现对输出光波长的调谐,产生波长λ周期性变化的激光;第一50/50光耦合器,用于将所述可调谐DBR激光器输出的波长周期性变化的激光分为两束;光纤延时线,用于对两激光束中的一束进行1/4周期延时;第二50/50光耦合器,用于将未经延时的激光束与经过1/4周期延时的激光束进行合束并耦合;光电探测器,用于将合束并耦合的光信号拍频后转化为电信号;微波功率分束器,用于将所述光电探测器的输出电信号分为两部分,其中一部分送入频谱仪,另一部分进入待测检波器;频谱仪,用于检测输入信号的频率υb;锁相放大器,其待测信号输入端与待测检波器的输出端相连接,其参考信号输入端与所述波形发生器的另一输出端电性连接,用于利用波形发生器产生的频率为2f的周期性方波信号,从待测检波器的输出信号中读出频率为2f的信号幅值V1;控制器,用于控制所述波形发生器输出周期性方波信号的低电平VL或高电平VH其中之一变化,根据以下关系式获取待测检波器的频率响应特性F2b):logF2b)=logV1-C2-logF1b),其中,F1b)为光电探测器的频率响应,C2为一常数。

(三)有益效果

本发明检波器频率响应测量系统不需要价格昂贵的矢量网络分析仪,通过拍频法可以产生高带宽的测试信号,具有成本低,测量精度高、测量带宽大的优点。

附图说明

图1为根据本发明实施例测量检波器频率响应系统的结构示意图;

图2为图1所示系统中光耦合器输出两光路中(a)未延时和(b)1/4周期延时的光波长随时间变化图;

图3为图1所示系统中光电探测器输出波形示意图;

图4为图1所示系统中待测检波器输出波形示意图;

图5为图1所示系统中待测检波器频率响应曲线图。

【本发明主要元件符号说明】

1-波形发生器; 2-可调谐DBR激光器;

3-驱动源;     4-第一50/50光耦合器;

5-光纤延时线; 6-第二50/50光耦合器;

7-光电探测器; 8-微波功率分束器;

9-待测检波器; 10-锁相放大器;

11-频谱仪; 12-控制器。

具体实施方式

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