[发明专利]检波器频率响应测量系统

权利要求书

1.一种检波器频率响应测量系统，其特征在于，包括：

波形发生器，用于产生频率分别为f和2f的两路周期性方波信号，该周期性方波信号的低电平为V_L，高电平为V_H；

可调谐DBR激光器，其相区电流输入端与所述波形发生器的输出端电性连接，用于利用所述频率为f的周期性方波信号改变自身相区电流实现对输出光波长的调谐，产生波长λ周期性变化的激光；

第一50/50光耦合器，用于将所述可调谐DBR激光器输出的波长周期性变化的激光分为两束；

光纤延时线，用于对两激光束中的一束进行1/4周期延时；

第二50/50光耦合器，用于将未经延时的激光束与经过1/4周期延时的激光束进行合束并耦合；

光电探测器，用于将合束并耦合的光信号拍频后转化为电信号；

微波功率分束器，用于将所述光电探测器的输出电信号分为两部分，其中一部分送入频谱仪，另一部分进入待测检波器；

频谱仪，用于检测输入信号的频率υ_b；

锁相放大器，其待测信号输入端与待测检波器的输出端相连接，其参考信号输入端与所述波形发生器的另一输出端电性连接，用于利用波形发生器产生的频率为2f的周期性方波信号，从待测检波器的输出信号中读出频率为2f的信号幅值V₁；

控制器，用于控制所述波形发生器输出周期性方波信号的低电平V_L或高电平V_H其中之一变化，根据以下关系式获取待测检波器的频率响应特性F₂(υ_b)：

logF₂(υ_b)＝logV₁-C₂-logF₁(υ_b)

其中，F₁(υ_b)为光电探测器的频率响应，C₂为一常数。

2.根据权利要求1所述的检波器频率响应测量系统，其特征在于，所述波形发生器产生周期性方波信号的占空比为50％，频率f介于1kHz～1MHz之间。

3.根据权利要求1所述的检波器频率响应测量系统，其特征在于，所述波形发生器产生周期性方波信号的低电平V_L的幅值介于900～1000mV之间，高电平V_H的幅值介于1000～2000mV之间。

4.根据权利要求1所述的检波器频率响应测量系统，其特征在于，所述可调谐DBR激光器产生激光的波长λ介于1563.3～1563.6nm之间。

5.根据权利要求1所述的检波器频率响应测量系统，其特征在于，所述光纤延时线的长度为10km～50km。

6.根据权利要求1所述的检波器频率响应测量系统，其特征在于，所述频谱仪检测到的信号频率υ_b满足：

υb=cnλ1-cnλ2]]>

其中，c为真空中光速，n为光纤和光纤延时线折射率，λ₁为低电平控制下，所述可调谐DBR激光器输出激光的波长，λ₂为高电平控制下，所述可调谐DBR激光器输出激光的波长。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的检波器频率响应测量系统，其特征在于，

所述波形产生器、可调谐DBR激光器之间通过导线连接；

所述可调谐DBR激光器、第一50/50光耦合器、第二50/50光耦合器、光纤延时线、光电探测器之间通过光纤连接。

所述光电探测器、微波功率分束器、频谱仪、待测检波器、锁相放大器、波形发生器、控制器之间通过射频连接线连接。