[发明专利]一种用于测试治具的探针

说明书

技术领域

本发明涉及一种电性能测试或故障探测部件，特别是涉及一种用于测试治具的探针。

背景技术

现有的用于测试治具的探针设有弹性体，弹性体可为螺旋状、S形状、半弧形状等，弹性体的两端分别连接探测部和接线部。此种弹性体的缺陷是：其折弯点容易断裂，工作过程中产生的应力和弹性体本身的内应力都会集中在折弯点上，导致弯曲部的断裂，损坏产品。

发明内容

本发明的目的是针对上述现有技术的不足，提供一种能够防止弹性体弯曲部断裂的用于测试治具的探针。

为实现上述目的，本发明所采取的技术方案如下。

一种用于测试治具的探针，包括依次连接的探测段、弹性体和接线段，所述接线段连接有导线，所述弹性体的弯曲部设置有加强筋。

进一步地，所述探测段的顶端为圆锥形尖头。

进一步地，所述探测段、所述弹性体和所述接线段为一体成型结构。

进一步地，所述探测段镀有导电高分子纳米复合材料。

本发明的有益效果是：本发明的用于测试治具的探针，通过在弹性体的弯曲部设置加强筋，有效地分散了弹性体本身的内应力和弹性体所受到的应力，较好的提高了弹性体的刚性，能够有效防止弹性体断裂。

附图说明

图1为本发明用于测试治具的探针的结构示意图。

图中，1-探测段，2-弹性体，3-接线段，4-圆锥形尖头，5-导线，6-加强筋。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，下面结合附图及实施例对本发明作进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明的用于测试治具的探针如图1所示，包括依次连接的探测段1、弹性体2和接线段3，接线段3连接有导线5，弹性体2的弯曲部设置有加强筋6，探测段1、弹性体2和接线段3可为一体成型结构。通过在弹性体2的弯曲部设置加强筋6，能够有效地分散弹性体2本身的内应力和弹性体2所受到的应力，较好的提高了弹性体2的刚性，能够有效防止弹性体2断裂。

作为优选，探测段1的顶端设置有圆锥形尖头4，便于刺破绝缘体进行探测。作为进一步优选，探测段1镀有导电高分子纳米复合材料，该复合材料具有高导电性，可减少探测段的金属材质的原料消耗。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并非用来限定本发明的实施范围；如果不脱离本发明的精神和范围，对本发明进行修改或者等同替换，均应涵盖在本发明权利要求的保护范围当中。