[发明专利]一种用于测试治具的探针无效
| 申请号： | 201310471502.8 | 申请日： | 2013-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN103529253A | 公开（公告）日： | 2014-01-22 |
| 发明（设计）人： | 杨俊民 | 申请（专利权）人： | 苏州市国晶电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 董建林 |
| 地址： | 215153 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测试 探针 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于测试治具的探针，包括依次连接的探测段、弹性体和接线段，所述接线段连接有导线，其特征在于，所述弹性体的弯曲部设置有加强筋。
2.根据权利要求1所述的用于测试治具的探针，其特征在于，所述探测段的顶端为圆锥形尖头。
3.根据权利要求1或2所述的用于测试治具的探针，其特征在于，所述探测段、所述弹性体和所述接线段为一体成型结构。
4.根据权利要求1或2所述的用于测试治具的探针，其特征在于，所述探测段镀有导电高分子纳米复合材料。
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