[发明专利]蚀刻剂组合物、形成LCD布线的方法、阵列基板及其制法在审
申请号: | 201310471239.2 | 申请日: | 2013-10-10 |
公开(公告)号: | CN103824808A | 公开(公告)日: | 2014-05-28 |
发明(设计)人: | 李恩远;金镇成;李石 | 申请(专利权)人: | 东友FINE-CHEM股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L21/3213;H01L21/28;C09K13/00;G02F1/1362;G02F1/1368 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 武晨燕;胡春光 |
地址: | 韩国全*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 蚀刻 组合 形成 lcd 布线 方法 阵列 及其 制法 | ||
1.一种制造用于液晶显示器的阵列基板的方法,包括:
(a)在基板上形成栅极;
(b)在具有所述栅极的所述基板上形成栅绝缘层;
(c)在所述栅绝缘层上形成作为有源层的金属氧化物膜;以及
(d)在所述金属氧化物膜上形成作为源极/漏极的Mo金属膜,
其中,(d)包括在所述金属氧化物膜上形成所述Mo金属膜和使用蚀刻剂组合物来蚀刻所述Mo金属膜,基于所述组合物的总重量,所述蚀刻剂组合物包含:(A)5.0~25.0wt%的过氧化氢;(B)1.0~5.0wt%的pH调节剂和(C)余量的水。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述用于液晶显示器的阵列基板是薄膜晶体管阵列基板。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述金属氧化物膜是含有AxByCzO的三元氧化物或四元氧化物的膜,A、B、C=Zn、Cd、Ga、In、Sn、Hf、Zr、Ta;x、y、z≥0,其中x、y和z中的两个或更多个不是零。
4.一种蚀刻剂组合物,包含:
(A)5.0~25.0wt%的过氧化氢;
(B)1.0~5.0wt%的pH调节剂;以及
(C)余量的水,
其中,在包括Mo金属膜/金属氧化物膜的双层中,上部Mo金属膜被所述蚀刻剂组合物蚀刻。
5.根据权利要求4所述的蚀刻剂组合物,其中,(B)pH调节剂是柠檬酸二氢钠/柠檬酸氢二钠、磷酸氢二钠/柠檬酸三钠,或醋酸铵。
6.根据权利要求4所述的蚀刻剂组合物,还包含螯合剂或防腐蚀剂。
7.一种形成液晶显示器的布线的方法,所述方法包括:
(I)在基板上形成金属氧化物膜;
(II)在所述金属氧化物膜上形成Mo金属膜;
(III)选择性地将光敏材料留在所述Mo金属膜上;以及
(IV)使用蚀刻剂组合物蚀刻所述Mo金属膜,
其中,基于所述组合物的总重量,所述蚀刻剂组合物包含:(A)5.0~25.0wt%的过氧化氢;(B)1.0~5.0wt%的pH调节剂和(C)余量的水。
8.一种用于液晶显示器的阵列基板,所述阵列基板包括使用根据权利要求4所述的蚀刻剂组合物所蚀刻的源极和漏极。
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