[发明专利]基于光谱成像技术的瓜子品质特征快速无损检测方法无效
| 申请号： | 201310465101.1 | 申请日： | 2013-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN103543106A | 公开（公告）日： | 2014-01-29 |
| 发明（设计）人： | 郑磊;马飞;巫秋萍;刘长虹;陆徐忠;杨剑波;陈伟;刘健;何怡刚 | 申请（专利权）人： | 合肥工业大学 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 | 代理人： | 余成俊 |
| 地址： | 230009 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 光谱 成像 技术 瓜子 品质 特征 快速 无损 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.基于光谱成像技术的瓜子品质特征快速无损的检测方法，其特征在于：利用光谱成像技术能获取瓜子表皮和内部信息对瓜子品质特征进行快速无损检测。
2.根据权利要求1所述的基于光谱成像技术的瓜子品质特征快速无损检测方法，其特征在于：所述的瓜子品质特征包括霉变、虫蛀、异色和酸败。
3.根据权利要求1所述的基于光谱成像技术的瓜子品质特征快速无损检测方法，其特征在于：所述的光谱成像技术的光谱波段包含405 ~ 970 nm的部分或全部波段。
4.根据权利要求1所述的基于光谱成像技术的瓜子品质特征快速无损检测方法，其特征在于，其具体操作步骤为：
(1) 利用光谱成像技术获取瓜子表皮和内部信息；
(2) 利用传统的试验方法得到霉变、虫蛀、异色和酸败瓜子的品质特征参数；
(3) 将步骤 (1) 所获得的瓜子表皮和内部信息与步骤 (2) 所获得的瓜子品质特征参数经由图像处理、数据分析和计算机建模，实现对瓜子品质特征的快速无损检测。
5.根据权利要求1所述的基于光谱成像技术的瓜子品质特征快速无损检测方法，其特征在于：所述的检测方法可以用于设计、建立一套光谱无损检测瓜子品质特征的自动检测、分析和分选装置，并能在此基础上将该装置应用扩展到薄壳类产品，薄壳类产品包括开心果、山核桃、巴旦木、大杏仁、夏威夷果、松子。
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