[发明专利]电子设备性能的测试方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及电子设备测试领域，特别涉及一种电子设备性能的测试方法及装置。

背景技术

随着科学技术飞速的发展，各种电子设备不断的丰富并方便了大众生活。由于利用电子设备处理信息具有方便快捷、节省资源等优势，使得电子设备成为人们的生活或工作中不可或缺的一部分。

其中，不同机型的电子设备的性能参差不齐，因此，为了用户充分了解电子设备的性能，需要对电子设备的性能进行测试。现有技术中，通过性能测试软件进行跑分测试以实现性能测试，具体测试过程为：为每个待测试的项目执行所对应的测试程序，从而根据执行结果确定出项目的测试结果，进而确定出电子设备性能的测试结果。

但是，现有测试方法所测试的硬件项目较少，仅测试一种或者少数的几种常见的硬件项目，而且在测试过程中并没有考虑到实际应用场景中各个项目的相互影响，导致不能真实的反应电子设备的性能，最终将导致所确定出的测试结果不够准确。

可见，如何提高电子设备性能的测试准确性是一个亟待解决的问题。

发明内容

基于上述问题，本发明实施例公开了一种电子设备性能的测试方法及装置，以提高电子设备性能的测试准确性。技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供了一种电子设备性能的测试方法，包括：

获得开始测试指令；

响应所述开始测试指令，分别对待测试的项目进行测试，所述待测试的项目至少包括：虚拟机性能、多任务性能；

其中，所述分别对待测试的项目进行测试包括：

执行所述虚拟机性能的测试，获得第一执行结果，依据所述第一执行结果，确定所述虚拟机性能对应的第一测试结果；

在获得所述第一执行结果后，执行所述多任务性能的测试，获得第二执行结果，并依据所述第二执行结果，确定所述多任务性能对应的第二测试结果。

可选的，所述待测试的项目还包括：CPU整数运算性能；

在获得所述第一执行结果后，执行所述CPU整数性能的测试，获得第三执行结果，并依据所述第三执行结果，确定所述CPU整数性能对应的第三测试结果。

可选的，所述待测试的项目还包括：CPU浮点数运算性能；

在获得所述第一执行结果后，执行所述CPU浮点数运算性能的测试，获得第四执行结果，并依据所述第四执行结果，确定所述CPU浮点数运算性能对应的第四测试结果。

可选的，所述待测试的项目还包括：RAM运算性能；

在获得所述第一执行结果后，执行所述RAM运算性能的测试，获得第五执行结果，并依据所述第五执行结果，确定所述RAM运算性能对应的第五测试结果。

可选的，所述待测试的项目还包括：RAM读写速度；

在获得所述第一执行结果后，执行所述RAM读写速度的测试，获得第六执行结果，并依据所述第六执行结果，确定所述RAM读写速度对应的第六测试结果。

可选的，在获得所述第三执行结果和所述第四执行结果后，执行所述RAM运算性能的测试，获得第五执行结果，并依据所述第五执行结果，确定所述RAM运算性能对应的第五测试结果；

在获得所述第三执行结果和所述第四执行结果后，执行所述RAM读写速度的测试，获得第六执行结果，并依据所述第六执行结果，确定所述RAM读写速度对应的第六测试结果；

在获得所述第五执行结果和所述第六执行结果后，执行所述多任务性能的测试，获得第二执行结果，并依据所述第二执行结果，确定所述多任务性能对应的第二测试结果。

可选的，所述待测试的项目还包括：GPU的2D绘图性能；

在获得所述第二执行结果后，执行所述GPU的2D绘图性能的测试，获得第七执行结果，并依据所述第七执行结果，确定所述GPU的2D绘图性能对应的第七测试结果。

可选的，所述待测试的项目还包括：GPU的3D绘图性能；

在获得所述第二执行结果后，执行所述GPU的3D绘图性能的测试，获得第八执行结果，并依据所述第八执行结果，确定所述GPU的3D绘图性能对应的第八测试结果。

可选的，所述待测试的项目还包括：数据库I/O性能；

在获得所述第二执行结果后，执行所述数据库I/O性能的测试，获得第九执行结果，并依据所述第九执行结果，确定所述数据库I/O性能对应的第九测试结果。

可选的，所述待测试的项目还包括：存储器性能；

在获得所述第二执行结果后，执行所述存储器性能的测试，获得第十执行结果，并依据所述第十执行结果，确定所述存储器性能对应的第十测试结果。