[发明专利]电子设备性能的测试方法及装置

权利要求书

1.一种电子设备性能的测试方法，其特征在于，包括：

获得开始测试指令；

响应所述开始测试指令，分别对待测试的项目进行测试，所述待测试的项目至少包括：虚拟机性能、多任务性能；

其中，所述分别对待测试的项目进行测试包括：

执行所述虚拟机性能的测试，获得第一执行结果，依据所述第一执行结果，确定所述虚拟机性能对应的第一测试结果；

在获得所述第一执行结果后，执行所述多任务性能的测试，获得第二执行结果，并依据所述第二执行结果，确定所述多任务性能对应的第二测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测试的项目还包括：CPU整数运算性能；

在获得所述第一执行结果后，执行所述CPU整数性能的测试，获得第三执行结果，并依据所述第三执行结果，确定所述CPU整数性能对应的第三测试结果。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测试的项目还包括：CPU浮点数运算性能；

在获得所述第一执行结果后，执行所述CPU浮点数运算性能的测试，获得第四执行结果，并依据所述第四执行结果，确定所述CPU浮点数运算性能对应的第四测试结果。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述待测试的项目还包括：RAM运算性能；

在获得所述第一执行结果后，执行所述RAM运算性能的测试，获得第五执行结果，并依据所述第五执行结果，确定所述RAM运算性能对应的第五测试结果。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述待测试的项目还包括：RAM读写速度；

在获得所述第一执行结果后，执行所述RAM读写速度的测试，获得第六执行结果，并依据所述第六执行结果，确定所述RAM读写速度对应的第六测试结果。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在获得所述第三执行结果和所述第四执行结果后，执行所述RAM运算性能的测试，获得第五执行结果，并依据所述第五执行结果，确定所述RAM运算性能对应的第五测试结果；

在获得所述第三执行结果和所述第四执行结果后，执行所述RAM读写速度的测试，获得第六执行结果，并依据所述第六执行结果，确定所述RAM读写速度对应的第六测试结果；

在获得所述第五执行结果和所述第六执行结果后，执行所述多任务性能的测试，获得第二执行结果，并依据所述第二执行结果，确定所述多任务性能对应的第二测试结果。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述待测试的项目还包括：GPU的2D绘图性能；

在获得所述第二执行结果后，执行所述GPU的2D绘图性能的测试，获得第七执行结果，并依据所述第七执行结果，确定所述GPU的2D绘图性能对应的第七测试结果。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述待测试的项目还包括：GPU的3D绘图性能；

在获得所述第二执行结果后，执行所述GPU的3D绘图性能的测试，获得第八执行结果，并依据所述第八执行结果，确定所述GPU的3D绘图性能对应的第八测试结果。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述待测试的项目还包括：数据库I/O性能；

在获得所述第二执行结果后，执行所述数据库I/O性能的测试，获得第九执行结果，并依据所述第九执行结果，确定所述数据库I/O性能对应的第九测试结果。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述待测试的项目还包括：存储器性能；

在获得所述第二执行结果后，执行所述存储器性能的测试，获得第十执行结果，并依据所述第十执行结果，确定所述存储器性能对应的第十测试结果。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述储存器性能所针对的存储器包括：SD卡和/或EMMC。

12.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述待测试的项目还包括：显示器性能；

在获得所述第一执行结果后，执行所述显示器性能的测试，获得第十一执行结果，并依据所述第十一执行结果，确定所述显示器性能对应的第十一测试结果。