[发明专利]一种QR码校正图形的检测方法及系统在审
| 申请号: | 201310459941.7 | 申请日: | 2013-09-29 |
| 公开(公告)号: | CN104517092A | 公开(公告)日: | 2015-04-15 |
| 发明(设计)人: | 张玲;关超;刘振华;刘革章;车万毅 | 申请(专利权)人: | 北大方正集团有限公司;方正移动传媒技术(北京)有限公司 |
| 主分类号: | G06K7/10 | 分类号: | G06K7/10 |
| 代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 张建纲 |
| 地址: | 100871 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 qr 校正 图形 检测 方法 系统 | ||
1.一种QR码校正图形的检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
根据校正图形的中心点与探测图形的中心点的相对位置关系获取参考坐标;
在所述参考坐标的预定范围内精确定位校正图形,获取校正图形的中心点的坐标。
2.根据权利要求1所述的QR码校正图形的检测方法,其特征在于,所述根据校正图形的中心点与探测图形的中心点的相对位置关系获取参考坐标的步骤包括:
获取第一探测图形的中心点坐标(XA,YA);
根据所述校正图形的中心点与所述第一探测图形的中心点的横向距离获取参考横坐标;根据所述校正图形的中心点与所述第一探测图形的中心点的纵向距离获取参考纵坐标。
3.根据权利要求2所述的QR码校正图形的检测方法,其特征在于,利用下述公式确定所述横向距离和所述纵向距离:
所述横向距离为:εh=ε(XR-XA);
所述纵向距离为:εz=ε(YR-YA);
其中XR=XB-XA+XC,YR=YB-YA+YC;(XB,YB)为第二探测图形的中心点的坐标;(XC,YC)为第三探测图形的中心点的坐标;ε为校正图形偏离因子。
4.根据权利要求3所述的QR码校正图形的检测方法,其特征在于,利用下述公式确定所述校正图形偏离因子:
ε=(N-3)/N,其中N为QR码横向或纵向上包含的模块的数量。
5.根据权利要求1-4任一所述的QR码校正图形的检测方法,其特征在于,在所述参考坐标的预定范围内精确定位校正图形,获取校正图形的中心点的坐标的步骤中,所述预定范围为包含所述参考坐标的正方形区域,所述正方形区域包含至少64个模块。
6.根据权利要求5所述的QR码校正图形的检测方法,其特征在于,所述正方形区域包含256个模块。
7.根据权利要求5所述的QR码校正图形的检测方法,其特征在于,所述正方形区域包含1024个模块。
8.根据权利要求1-7任一所述QR码校正图形的检测方法,其特征在于,在所述参考坐标的预定范围内精确定位校正图形,获取校正图形的中心点的坐标的步骤包括:
沿第一方向对所述预定范围检测,检测白:黑:白的长度比例满足预设比例的第一线段,确定所述第一线段中黑色部分的中心点;
以所述第一线段中黑色部分的中心点作为基准位置,得到垂直于所述第一线段的第二检测线,在所述第二检测线上检测白:黑:白的长度比例满足预设比例的第二线段,所述第二线段中黑色部分的中心点为校正图形的中心点。
9.根据权利要求8所述QR码校正图形的检测方法,其特征在于,在所述参考坐标的预定范围内精确定位校正图形,获取校正图形的中心点的坐标的步骤还包括:
以所述第二线段中黑色部分的中心点为基准位置,得到垂直于所述第二线段的第三检测线;在所述第三检测线上检测白:黑:白的长度比例满足预设比例的第三线段,若能够检测到所述第三线段则所述第二线段中黑色部分的中心点为校正图形的中心点,否则返回沿第一方向对所述预定范围检测的步骤。
10.根据权利要求8或9所述的QR码校正图形的检测方法,其特征在于,在所述参考坐标的预定范围内精确定位校正图形,获取校正图形的中心点的坐标的步骤还包括:
以所述第二线段中黑色部分的中心点为基准位置,获得与所述第一方向呈45°角或负45°角的第四检测线,在所述第四检测线上检测满足白:黑:白的长度比例为预设比例的第四线段,若能够检测到所述第四线段则所述第二线段中黑色部分的中心点为校正图形的中心点,否则返回沿第一方向对所述预定范围检测的步骤。
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