[发明专利]含硼聚乙烯补偿3He正比计数器中子能量响应的方法在审
| 申请号： | 201310445498.8 | 申请日： | 2013-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN104516023A | 公开（公告）日： | 2015-04-15 |
| 发明（设计）人： | 刘建忠;王勇;刘倍;徐园;刘惠英 | 申请（专利权）人： | 中国辐射防护研究院 |
| 主分类号： | G01V3/00 | 分类号： | G01V3/00 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙)11311 | 代理人： | 田明;任晓航 |
| 地址： | 030006*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 聚乙烯 补偿 he 正比计数器 中子 能量 响应 方法 | ||
1.一种含硼聚乙烯补偿3He正比计数器中子能量响应的方法，包括以下步骤：在3He正比计数器外包裹一层含硼聚乙烯的薄片，所述的含硼聚乙烯薄片表面打有一定数量的孔洞。
2.如权利要求1所述的一种含硼聚乙烯补偿3He正比计数器中子能量响应的方法，其特征是：所述的含硼聚乙烯薄片的厚度在3～10㎜之间。
3.如权利要求2所述的一种含硼聚乙烯补偿3He正比计数器中子能量响应的方法，其特征是：所述的含硼聚乙烯薄片的厚度在6～7㎜之间。
4.如权利要求1所述的一种含硼聚乙烯补偿3He正比计数器中子能量响应的方法，其特征是：在含硼聚乙烯薄片上均匀打有直径为2～10㎜的孔洞。
5.如权利要求4所述的一种含硼聚乙烯补偿3He正比计数器中子能量响应的方法，其特征是：孔洞的直径为3～4㎜。
6.如权利要求1所述的一种含硼聚乙烯补偿3He正比计数器中子能量响应的方法，其特征是：所述孔洞的总面积占整个含硼聚乙烯薄片面积的10～20%。
7.如权利要求6所述的一种含硼聚乙烯补偿3He正比计数器中子能量响应的方法，其特征是：所述孔洞的总面积占整个含硼聚乙烯薄片面积的14～15%。
8.如权利要求1所述的一种含硼聚乙烯补偿3He正比计数器中子能量响应的方法，其特征是：所述的含硼聚乙烯薄片直接包裹在正比计数器外。
9.如权利要求1所述的一种含硼聚乙烯补偿3He正比计数器中子能量响应的方法，其特征是：所述的含硼聚乙烯薄片与正比计数器之间填充有慢化材料，所述的含硼聚乙烯薄片与3He正比计数器之间的距离不超过30㎜。
10.如权利要求1所述的一种含硼聚乙烯补偿3He正比计数器中子能量响应的方法，其特征是：使用含硼聚乙烯制成薄片，其厚度用蒙卡的方法计算后确定，并将含硼聚乙烯加工成与探测器相同的形状，并将含硼聚乙烯包裹在中子探测器外面，孔洞的直径和数量也用蒙卡的方法计算后确定。
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