[发明专利]光学测量装置和光学测量微芯片无效
申请号: | 201310439608.X | 申请日: | 2013-09-24 |
公开(公告)号: | CN103712964A | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | 甲斐慎一 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;B01L3/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 测量 装置 芯片 | ||
技术领域
本技术涉及光学测量装置和光学测量微芯片。
背景技术
近几年,对于基因分析、蛋白质分析、细胞分析等领域的技术研究已在诸如医学领域、药物开发领域、临床分析领域、食品领域、农业领域以及工业领域的各种领域中取得了发展。最近,片上实验室的技术开发和实际应用已经取得了进展,在所述片上实验室中,各种反应(诸如核酸、蛋白质、细胞等的检测和分析)在设置在芯片中的微尺寸的流道或阱中被执行。这作为容易测量生物分子等的技术,已经引起了人们的关注。
在这种情况下,例如,通常使用利用由PCR方法进行的核酸扩增反应的方法,以检测和测量甚至微量的样本,其中,通过所述PCR方法DNA片段被扩增数十万倍。
此外,已经研发了使用具有多个阱的微板通过光吸收、荧光或者发光检测和测量多个样本的光学分析装置,即便所述样本只包括少量的目标物质。
近几年,发光二极管(LED)或者半导体激光器代替钨-卤素灯或者放电管被用作光源的光学分析装置已变成主流。
并且,已知一种包括照射机构的吸光计,所述照射机构利用来自发光二极管的光直接地照射样本(例如,参见日本专利公开第9-264845号)。其中的第二实施方式被配置为包括多个LED以及分别与LED配对的多个光检测器,对应于对象的多个测量位置的矩阵排列。
此外,存在照射光通过光学系统移动的光束扫描法,以及承载样本的台移动的分级扫描方法。此外,已知一种测量具有用于核酸扩增的反应区的盒中的样本的扫描检测器,其中,柱状结构被使用并与光源和检测单元一起结合于机械装置(例如,参见国际性专利申请第2009-515162号的国际公开)。
发明内容
在本技术中,期望提供表现出良好的检测精度的光学测量装置以及允许良好的检测精度的光学测量微芯片。
根据本技术的实施方式,提供了一种光学测量装置,包括控制单元,基于来自检测光量校准区域的光学信息,补偿从微芯片中的反应区域生成的检测光。检测光量校准区域可设置在微芯片的外部和/或内部。
根据本技术的实施方式,提供了一种光学测量微芯片。形成具有ID区域的粘合层。ID区域可包括化验信息和/或芯片信息。
根据本技术,可以提供表现出良好的检测精度的光学测量装置以及允许良好的检测精度的光学测量微芯片。
附图说明
图1是示出根据本技术第一实施方式的光学测量装置1的示图;
图2是示出根据本技术实施方式的光学测量装置1的检测光学系统7的示意图;
图3是示出检测光学系统的位置与反应区域4的信号量(检测光)之间的关系的示图;
图4是示出从物镜到反应区域的距离和反应区域4的信号量(检测光)之间的关系的示图;
图5是示出根据本技术实施方式的光学测量装置1的可移动检测光学系统7的异常状态的实例的示图;
图6是示出在可移动检测光学系统7处于异常状态时,可移动检测光学系统的位置与反应区域4的信号量(检测光)之间的关系的实例的示图;
图7是示出检测光学系统的位置与用于检测光量校准区域2和反应区域4的信号量(检测光)之间的关系的示图;
图8是示出在可移动检测光学系统7处于异常状态时,可移动检测光学系统7的位置和检测光量校准区域2和反应区域4的信号量之间的关系的实例的示图;
图9的A是示出根据本技术第二实施方式的光学测量装置1的示图;
图9的B是示出检测光学系统的位置与检测光量校准区域2的信号量(检测光)之间的关系的示图;
图10的A和图10的B是示出根据本技术的实施方式具有ID区域33的微芯片的实例的示图,其中,图10的A示出了多个ID区域33可用作检测光量校准区域2的实例;
图11是示出根据本技术的实施方式的微芯片的示图,所述微芯片具有由有或无粘合层(通过粘合剂331和间隔332)形成的ID区域33;
图12是示出根据本技术实施方式的光学测量装置和具有ID区域33的微芯片的示图,其为在可移动检测光学系统7的情况下检测光学系统的位置和ID区域33和反应区域4的信号量(检测光)之间的关系的实例;以及
图13是示出根据本技术实施方式基于包含在的微芯片的ID区域33内的化验信息和/或芯片信息的光学测量装置的特性的流程图。
具体实施方式
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