[发明专利]一种测试数据压缩方法、数据解压缩装置及解压缩方法

权利要求书

1.一种确定性自测试的测试数据压缩方法，其包括：

步骤1：利用伪随机产生的数据对集成电路进行测试，确定难测故障并记录；

步骤2：获得所记录的难测故障的测试数据，并进行输入压缩，生成输入压缩后的测试数据集合；

步骤3：将上述输入压缩后的测试数据集合进行聚类压缩，对测试数据集合中的测试数据进行类的划分，使得每个类内的测试数据两两之间最多只相差一个比特；

步骤4：对上述聚类压缩后的测试数据集合进行移位压缩，最终生成压缩后的测试数据集合。

2.如权利要求1所述的确定性自测试的测试数据压缩方法，其特征在于，所述移位压缩是指移位压缩后的测试数据集合中的测试数据经过循环左移或者循环右移能够得到压缩前的测试数据集合中的测试数据；所述输入压缩是指将测试数据集合中相同或相反的数据进行合并。

3.如权利要求1所述的确定性自测试的测试数据压缩方法，其特征在于，对测试数据进行聚类压缩具体包括：

步骤31：对测试数据集合采用贪心算法进行类的划分，使得划分后的类的数目最少；并通过动态规划或贪婪算法进行类的基准向量的选取，使得该基准向量与该类中的所有测试向量分别最多只有一比特相异；

步骤32：判断上述测试数据集合划分的类是否都已被压缩，且将压缩后的基准向量存入压缩后的测试数据集合；

步骤33：如果存在未被压缩的测试类，寻找该类的基准向量；

步骤34：将上述类的基准向量存入压缩后的测试数据集合中。

4.一种确定性自测试测试数据解压缩装置，其包括：

比特计数器，其用来对向量的相应比特进行计数，其在计满时触发所述向量计数器的计数值加1；

向量计数器，其用来对从种子向量解压出的相应向量进行计数，其在计满时，触发所述移位计数器的计数值加1；

移位计数器，其用来对种子向量进行了移位的相应时钟周期进行计数，其在未计满时，聚类移位寄存器中的测试数据循环移位；在其计满时，触发所述地址计数器的计数值加1，同时使能所述聚类移位寄存器载入该地址计数器所指向的ROM地址中的新种子向量；

地址计数器，其用于指向ROM的当前地址；

比较器，其用于比较比特计数器和向量计数器的计数值，以判断当前解压的是否是第i个向量的第i个比特，其比较结果输出至异或门，其中第i个向量表示将种子向量移位后得到的第i个向量，i的取值为1至种子向量的比特位数；

聚类移位寄存器，其用于存储聚类解压时的测试数据和移位解压时的移位数据；其在移位计数器未计满时进行循环移位，在移位计数器计满时，从ROM载入地址计数器所指向的下一地址中的新种子向量；

异或门，其用于对比较器输出的比较结果和聚类移位寄存器输出的数据进行异或操作，以翻转第i个向量的第i比特，并将数据串行输出至输入压缩寄存器中；

输入压缩寄存器，其用来存储聚类移位解压缩后的测试数据，并通过电路连线并行扩展后输出至反相器；

反相器，其用于对并行扩展后的测试数据进行反相，最终得到聚类移位输入解压缩后的测试数据。

5.如权利要求4所述的确定性自测试测试数据解压缩装置，其特征在于，所述聚类移位寄存器中预置种子向量，所述比特计数器和向量计数器控制聚类移位寄存器中的种子向量的第i位翻转后输出，所输出的n个向量数据为聚类移位解压缩后的测试数据。

6.如权利要求4所述的确定性自测试测试数据解压缩装置，其特征在于，所述聚类解压是指将输入的n比特种子向量数据翻转其中一位得到n个解压数据。

7.如权利要求4所述的确定性自测试测试数据解压缩装置，其特征在于，所述聚类移位寄存器由带使能和置位的触发器组构成；所述计数器具有计数、使能、复位以及判断最高位是否输出为1的功能。

8.一种确定性自测试的测试数据解压方法，其包括如下步骤：

步骤1：将聚类移位寄存器中的种子向量进行聚类解压缩，得到n个测试数据并输出至输入压缩寄存器，n为种子向量的比特数；

步骤2：将种子向量进行移位解压缩，即将聚类移位寄存器中的种子向量进行循环移位，并转步骤1进行聚类解压缩，直到种子向量移位到最后一位；移位后的种子向量仍存储在聚类移位寄存器中。

步骤3：将输入压缩寄存器中的测试数据，经过电路连线的并行扩展和反相器的反相，得到输入解压缩后的难测故障的测试向量并输出。